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基于BIST的FPGA逻辑单元测试方法 被引量：5
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作者 吴继娟 孙媛媛 刘桂艳 《哈尔滨工业大学学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2004年第8期1074-1076,共3页
给出了一种基于内建自测(BIST)的测试现场可编程门阵列(FPGA)逻辑单元的方法,讨论了测试的配置结构、故障覆盖率和测试中出现的问题及解决办法.实验表明,该测试方法具有所需测试向量少、故障覆盖率高、简便适用等优点.
关键词 BIST FPGA 逻辑单元 现场可编程门阵列 内建自测 响应检验电路 故障覆盖率
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