上切牙区腭平面角与牙槽嵴顶唇腭径的相关性分析

目的:利用CBCT分别测量不同错颌类型的患者上切牙区腭平面角,切牙牙槽嵴顶颌骨唇腭径,为前牙区种植手术提供数据支持。方法:从CBCT数据库中收集符合条件的180例患者资料,其中安氏Ⅰ类者60例,Ⅱ类60例,Ⅲ类60例。利用NNT Viewer软件进行三维重建,并利用软件自带的角度测量工具进行测量。结果:单因素方差分析表明,在安氏Ⅰ、Ⅱ、Ⅲ类患者之间,切牙区牙槽嵴顶唇腭径(χ2=4.758,P=0.014)及腭平面角(χ2=47.546,P=0.000)均存在显著性差异。安氏Ⅲ类唇腭径数值低于安氏Ⅰ、Ⅱ类。腭平面角与对应区颌骨唇腭径呈直线相关关系(OR=0.733,P<0.01;回归方程:唇腭径=9.609-0.026*腭平面角)。结论:CBCT是较理想的研究前牙种植手术区的工具。