晶体晶向的喇曼微探针测量方法

介绍了利用喇曼微探针测量晶体晶向的原理,对该方法作了详细描述;阐述了利用喇曼微探针测量晶体晶向较其他一些测量方法的优越性。

喇曼微探针的新发展——共焦激光喇曼

喇曼微探针又称作喇曼显微镜,是显微镜与喇曼光谱仪的组合系统。最早使用喇曼微探针研究很小的样品或者显微镜可见夹杂物是法国的Delhye。所以,喇曼探针又称作Delhye分子微探针,意味着能在分了水平上给出物质的结构信息。早期的喇曼微探针由单道检测的喇曼光谱仪与显微镜组合而成。80年代中期光学多道分析仪有了很大发展,出现了新一代多道检测喇曼微探针。近年出现的共焦显微镜,具有三维分辨能力,能作'光学切片',在生物学和其他一些领域有很高的应用价值。采用共焦设计的喇曼微探针——共焦激光喇曼(C、L、R、)是法国EG&GDilor公司最新发展的新方法。

埃洛石喇曼微探针光谱学研究

分布在新西兰马特里海湾的管柱状埃洛石矿物的喇曼光谱可通过 Renishaw 1000喇曼光谱显微镜系统获得。在完整波长范围内,利用喇曼微探针可获得直径仅0.8μm 晶体的喇曼光谱,并可以研究光谱沿不同晶轴方向产生的特定振动。观测到的羟基衍生物的3个频带分别是3616.5cm^(-1)、3623.4cm^(-1)和3629.7cm^(-1),3个频带与埃洛石八面体底部同界面内部烃基之间有密切联系。3698.2 cm^(-1)和3705cm^(-1)的两个频带对应于八面体晶体外部不同界面的羟基。3629.7cm^(-1)频带的相对密度沿埃洛石晶轴倾向产生变化。试验研究还表明,埃洛石的晶格变化也与晶轴倾向有密切关系。

用激光喇曼微探针光谱学进行地质薄断层现场分析时的注意事项

引言激光喇曼微探针(LRM)的出现使研究人员有可能进行岩石微相(≥1μm)的现场分析。地质工作者喜欢研究抛光薄层(用粘结剂把薄岩片固定到玻璃载片上,磨薄至30μm),或象微温测量术那样使用双面抛光的岩片样品。

材料缺陷的拉曼微探针研究

本文利用拉曼微探针对某些硅酸盐材料的缺陷进行了组分与结构研究,并初步探讨了它们的成因.现有证据表明,平板玻璃中的微晶质体的出现多与气泡密切相关,气泡在玻璃熔制过程中起着微绝热体的作用,且其内部温度大约在825℃左右.另外,在陶瓷中发现伴有针孔的黑斑缺陷多为单质硅,这是由陶瓷粘土原料中的碳所致.