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静电放电器件充电模型CDM失效机理分析
被引量:
2
1
作者
陆坚
姜汝栋
《电子与封装》
2014年第10期39-42,共4页
CMOS集成电路进入纳米时代,电路的功能日趋复杂,面积也不断增加,电路自身存储的静电电荷对电路造成的损伤将不可忽视,在失效分析中,这种失效模型称为器件充电模型。详细介绍了器件充电模型与人体模型及机器模型在电路原理和电流波形上...
CMOS集成电路进入纳米时代,电路的功能日趋复杂,面积也不断增加,电路自身存储的静电电荷对电路造成的损伤将不可忽视,在失效分析中,这种失效模型称为器件充电模型。详细介绍了器件充电模型与人体模型及机器模型在电路原理和电流波形上的不同之处,分析电路上存储电荷的机理和原因,主要是由于电路在生产和使用环境中受到静电源的感应以及电路和其他物体或空气的摩擦等造成。详细分析器件充电模型引起电路损伤的失效机理,器件充电模型作为一个电荷驱动型,其电流方向主要是由电路内部向外部流动,其电流大、上升速度快,会对电路的栅极造成损伤。
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关键词
静电放电
器件充电模型
人体
模型
机器
模型
下载PDF
职称材料
基于Zapmaster7/2型ESD测试仪的微电路静电测试
2
作者
潘廷龙
路成萍
+1 位作者
年探探
周玉婉
《电子质量》
2022年第4期38-41,49,共5页
基于Zapmaster7/2型ESD测试仪,详细介绍了静电测试的方法、原理。静电测试的三种模型。三种模型之间的区别。在进行ESD测试时需要注意细节。
关键词
静电测试
人体
模型
机器
模型
器件充电模型
电路图
短路波形
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职称材料
题名
静电放电器件充电模型CDM失效机理分析
被引量:
2
1
作者
陆坚
姜汝栋
机构
江南大学
中国电子科技集团公司第
出处
《电子与封装》
2014年第10期39-42,共4页
文摘
CMOS集成电路进入纳米时代,电路的功能日趋复杂,面积也不断增加,电路自身存储的静电电荷对电路造成的损伤将不可忽视,在失效分析中,这种失效模型称为器件充电模型。详细介绍了器件充电模型与人体模型及机器模型在电路原理和电流波形上的不同之处,分析电路上存储电荷的机理和原因,主要是由于电路在生产和使用环境中受到静电源的感应以及电路和其他物体或空气的摩擦等造成。详细分析器件充电模型引起电路损伤的失效机理,器件充电模型作为一个电荷驱动型,其电流方向主要是由电路内部向外部流动,其电流大、上升速度快,会对电路的栅极造成损伤。
关键词
静电放电
器件充电模型
人体
模型
机器
模型
Keywords
electrostatics discharge
charged device model
human body model
machine model
分类号
TN306 [电子电信—物理电子学]
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职称材料
题名
基于Zapmaster7/2型ESD测试仪的微电路静电测试
2
作者
潘廷龙
路成萍
年探探
周玉婉
机构
华东光电集成器件研究所
出处
《电子质量》
2022年第4期38-41,49,共5页
文摘
基于Zapmaster7/2型ESD测试仪,详细介绍了静电测试的方法、原理。静电测试的三种模型。三种模型之间的区别。在进行ESD测试时需要注意细节。
关键词
静电测试
人体
模型
机器
模型
器件充电模型
电路图
短路波形
Keywords
electrostatic test
human body model
machine model
device charging model
circuit diagram
short circuit waveform
分类号
TM933 [电气工程—电力电子与电力传动]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
静电放电器件充电模型CDM失效机理分析
陆坚
姜汝栋
《电子与封装》
2014
2
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职称材料
2
基于Zapmaster7/2型ESD测试仪的微电路静电测试
潘廷龙
路成萍
年探探
周玉婉
《电子质量》
2022
0
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