基于V93000系统的高速QDR SRAM存储器测试方法

为满足当今的高速网络中高带宽、高密度存储器要求,四倍数据速率静态随机存取存储器(QDR SRAM)广泛应用于路由器、交换机、集成器、网络卡等互联网设备中。QDR SRAM在双倍数据速率存储器(DDR)的基础上,具有独立的数据输入端口和数据输出端口,在脉冲信号的上升沿和下降沿都可以处理数据资料,读写控制、读写地址分离,与DDR相比操作起来更简便。但同时QDR因其数据传输速率高、存储容量较大,使得如何对其性能进行精确评价成为存储器类器件测试的一个亟待解决的难题。文中以GSI公司的GS81302D37GE-300I型芯片为例,介绍了一种基于爱德万公司V93000测试系统进行高速QDR SRAM电路测试的方法,依托V93000测试系统的可编程阻抗匹配特性及存储器专用测试软件包等对其性能进行高效、准确地评价,以满足高速QDR SRAM各项指标的评估要求。

一种用于SAR成像的数据存储系统设计方法

针对合成孔径雷达(SAR)成像回波数据量巨大和存储器资源利用率偏低的问题,提出一种双倍数据速率动态随机存储器(DDR)的存储装置,并设计一种原位转置的存储方法。该方法首先比较雷达回波数据距离向和方位向的长度,通过预留出距离向和方位向中较长数据的单行或者单列所占用的存储空间来提高存储器读地址和写地址逻辑映射的灵活性,有效地实现了大数据量的片内转置操作,提高了双倍数据速率动态随机存储器(DDR)的资源利用率,并将分块子矩阵地址映射方法和跨页地址映射方法应用于原位转置中,有效地提高了SAR回波数据转置的访问效率。仿真实验结果表明,该数据存储系统在满足成像实时性的同时降低了一半的DDR存储器的用量,提高了DDR的资源利用率,降低了成本,目前已成功应用于多种模式的SAR成像处理中。

基于QDRII的一种PXI任意波形发生器数字部分的设计

随着测试技术的发展,对信号的要求越来越高,高采样率任意波形发生器被广泛应用于各种测试系统中。文章重点介绍了在PXI3U板卡上实现采样率高达200MS/S的任意波形发生器模块的设计。设计中采用QDRII代替了SRAM,解决了由于存储器带宽过小而阻碍任意波形采样率提高的问题。