基于AD7705和单片机的智能四探针测试仪的研制

介绍了一种智能型四探针电阻率测试仪的设计方法。该方法以AT89S52单片机控制器为核心,采用恒流源供电,以内带程控放大器和片上数字滤波器的16位Σ-Δ型模数转换器AD7705为主要器件。该仪器硬件电路简单,能够自主选择量程和自校准,具有较高的智能水平与推广的价值。

功能高分子膜导电性测试方法的研究

功能高分子材料是材料科学与高分子科学的重要研究对象。导电性是导电功能高分子膜的重要的性能指标。文章研究了膜导电性的测试方法 ,讨论了四探针测试法的特点和应用范围 ,为提高测试速度和精度 ,针对确定厚度的导电功能高分子膜 ,提出了平行四电极测试法 ,成功地用自制的平行四电极测试装置进行了膜导电性测试 ,得到了满意的结果 。

制备条件对Bi_2Te_3薄膜导电性能的影响

通过物理气相沉积法在石英基底上于不同条件下制备出五种Bi_2Te_3薄膜,并且利用扫描电子显微镜和XRD对各薄膜样品进行表征,最后运用四探针测试法测试样品导电性能。结果表明:制备温度和沉积时间对Bi_2Te_3薄膜的表面形貌和样品膜的导电性能影响很大;制备温度越高、沉积时间越长,所制薄膜的均匀度及致密度越高、导电性越好。

硅晶片电阻率测量技术的研究

分析了硅晶片电阻率测试的重要性并介绍了国内外常用的电阻率测试方法,并对使用最广泛的工艺检测手段-四探针技术的原理、测准条件及发展状况进行了详细的介绍。