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铁电薄膜C-V特性测量研究
1
作者 冯术成 杨传仁 +3 位作者 陈宏伟 符春林 廖家轩 尹开锯 《实验科学与技术》 2005年第z1期129-131,共3页
采用TH2828型LCR测试仪及四端对接测量方法,搭建了铁电薄膜的介电特性测试平台。利用此测试平台对自制钛酸锶钡(简称BST)铁电薄膜材料的C-V特性进行测量,能准确表征铁电薄膜的介电特性。
关键词 铁电薄膜 C-V特性测量 四端对接 实验
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低频阻抗分析仪在计量及测试中的应用 被引量：1
2
作者 董艳阳 《现代测量与实验室管理》 2002年第4期25-27,24,共4页
本文介绍了一种带微处理器的低频阻抗分析仪 ,主要叙述了其工作原理、端口连接方式以及该仪器在计量。
关键词 低频阻抗分析仪 计量 应用 四端对接口 测试 工作原理 阻抗测量
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