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HORIBA Jobin Yvon推出ACTIVA固体侦测器同步ICP发射分光仪
1
《世界仪表与自动化》
2005年第5期68-68,共1页
法国HORIBA Jobin Yvon公司宣布将向全球市场推出最新产品。新的ICP ACTIVA分光仪可同时在同一束WAV波中分析所有的组成成分及其背景(波长的解析图),具有灵活,快速和分辨力高的特点。该分光仪在使用上具有很大的灵活性:可选择160~80...
法国HORIBA Jobin Yvon公司宣布将向全球市场推出最新产品。新的ICP ACTIVA分光仪可同时在同一束WAV波中分析所有的组成成分及其背景(波长的解析图),具有灵活,快速和分辨力高的特点。该分光仪在使用上具有很大的灵活性:可选择160~800nm之间的所有基础波长,可选择WAV模式,也可选择先进的分析模式,还可将分析速度和分析分辨力进行个性化设置。
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关键词
HORIBA
Jobin
Yvon公司
ACTIVA
固体侦测器
同步ICP发射分光仪
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职称材料
题名
HORIBA Jobin Yvon推出ACTIVA固体侦测器同步ICP发射分光仪
1
出处
《世界仪表与自动化》
2005年第5期68-68,共1页
文摘
法国HORIBA Jobin Yvon公司宣布将向全球市场推出最新产品。新的ICP ACTIVA分光仪可同时在同一束WAV波中分析所有的组成成分及其背景(波长的解析图),具有灵活,快速和分辨力高的特点。该分光仪在使用上具有很大的灵活性:可选择160~800nm之间的所有基础波长,可选择WAV模式,也可选择先进的分析模式,还可将分析速度和分析分辨力进行个性化设置。
关键词
HORIBA
Jobin
Yvon公司
ACTIVA
固体侦测器
同步ICP发射分光仪
分类号
TH74 [机械工程—光学工程]
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职称材料
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作者
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1
HORIBA Jobin Yvon推出ACTIVA固体侦测器同步ICP发射分光仪
《世界仪表与自动化》
2005
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