期刊导航
期刊开放获取
河南省图书馆
退出
期刊文献
+
任意字段
题名或关键词
题名
关键词
文摘
作者
第一作者
机构
刊名
分类号
参考文献
作者简介
基金资助
栏目信息
任意字段
题名或关键词
题名
关键词
文摘
作者
第一作者
机构
刊名
分类号
参考文献
作者简介
基金资助
栏目信息
检索
高级检索
期刊导航
共找到
1
篇文章
<
1
>
每页显示
20
50
100
已选择
0
条
导出题录
引用分析
参考文献
引证文献
统计分析
检索结果
已选文献
显示方式：
文摘
详细
列表
相关度排序
被引量排序
时效性排序
飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS)分析技术
被引量：
9
1
作者
李展平
《矿物岩石地球化学通报》
CAS
CSCD
北大核心
2020年第6期1173-1190,共18页
飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS)是目前应用最广泛的表面分析技术之一,是一种具有高质量分辨本领(质量分辨率)和高空间分辨(空间分辨率)的表面分析技术,适用于有机、无机、生物、医学、电子、地质/考古、环境等各种领域的各种固体材料...
飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS)是目前应用最广泛的表面分析技术之一,是一种具有高质量分辨本领(质量分辨率)和高空间分辨(空间分辨率)的表面分析技术,适用于有机、无机、生物、医学、电子、地质/考古、环境等各种领域的各种固体材料的分析。本文对TOF-SIMS分析技术的发展、原理、基本构成、特点和应用领域等方面做了全面介绍。
展开更多
关键词
TOF-SIMS
表面
分析
固体材料分析
下载PDF
职称材料
题名
飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS)分析技术
被引量：
9
1
作者
李展平
机构
有机光电子与分子工程教育部重点实验室
出处
《矿物岩石地球化学通报》
CAS
CSCD
北大核心
2020年第6期1173-1190,共18页
基金
国家重点研发计划课题(2018YFA0702600)。
文摘
飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS)是目前应用最广泛的表面分析技术之一,是一种具有高质量分辨本领(质量分辨率)和高空间分辨(空间分辨率)的表面分析技术,适用于有机、无机、生物、医学、电子、地质/考古、环境等各种领域的各种固体材料的分析。本文对TOF-SIMS分析技术的发展、原理、基本构成、特点和应用领域等方面做了全面介绍。
关键词
TOF-SIMS
表面
分析
固体材料分析
Keywords
TOF-SIMS
surface analysis
solid material analysis
分类号
P575.9 [天文地球—矿物学]
下载PDF
职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS)分析技术
李展平
《矿物岩石地球化学通报》
CAS
CSCD
北大核心
2020
9
下载PDF
职称材料
已选择
0
条
导出题录
引用分析
参考文献
引证文献
统计分析
检索结果
已选文献
上一页
1
下一页
到第
页
确定
用户登录
登录
IP登录
使用帮助
返回顶部
