Y99-61803-91 2002947对伪固定型故障与泄漏故障模型的比较研究=A com-parative study of pseudo SIUCk-at and Ieakage fault model[会,英]/Zaehariah,S.T.& Chakravarty,S.//Pro-ceedings of the 12th InternationaI Conference o...Y99-61803-91 2002947对伪固定型故障与泄漏故障模型的比较研究=A com-parative study of pseudo SIUCk-at and Ieakage fault model[会,英]/Zaehariah,S.T.& Chakravarty,S.//Pro-ceedings of the 12th InternationaI Conference of VLSIDesign.—91~94(EZ)Y99-61803-250 2002948测试Ⅱ(含五篇文章)=TestingⅡ[会,英]//Proceed-rags of the 12th International Conference of VLSI De-sign,—250~275(EZ)本部分收录五篇论文。展开更多
本文介绍了一种检测数字电路中多重故障用的基于人工神经网络(ANN)的技术。该技术使用不同数量的由故障真值表中产生的随机选择的电路数据。真值表通过在电路中插入随机单个固定型故障而构成。文中描述了采用该技术的诊断流程和 ANN 结...本文介绍了一种检测数字电路中多重故障用的基于人工神经网络(ANN)的技术。该技术使用不同数量的由故障真值表中产生的随机选择的电路数据。真值表通过在电路中插入随机单个固定型故障而构成。文中描述了采用该技术的诊断流程和 ANN 结构及由样电路产生的测试结果。结果表明,当测试数据选择流程受电路测试矢量指导时,可得到紧凑、高效灵活的ANN 结构。展开更多
文摘Y99-61803-91 2002947对伪固定型故障与泄漏故障模型的比较研究=A com-parative study of pseudo SIUCk-at and Ieakage fault model[会,英]/Zaehariah,S.T.& Chakravarty,S.//Pro-ceedings of the 12th InternationaI Conference of VLSIDesign.—91~94(EZ)Y99-61803-250 2002948测试Ⅱ(含五篇文章)=TestingⅡ[会,英]//Proceed-rags of the 12th International Conference of VLSI De-sign,—250~275(EZ)本部分收录五篇论文。
文摘本文介绍了一种检测数字电路中多重故障用的基于人工神经网络(ANN)的技术。该技术使用不同数量的由故障真值表中产生的随机选择的电路数据。真值表通过在电路中插入随机单个固定型故障而构成。文中描述了采用该技术的诊断流程和 ANN 结构及由样电路产生的测试结果。结果表明,当测试数据选择流程受电路测试矢量指导时,可得到紧凑、高效灵活的ANN 结构。