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阳离子固化环氧固晶胶在LED小芯片封装中的应用
被引量:
1
1
作者
陈江聪
李秉轩
+1 位作者
李衡峰
张淑娟
《高分子材料科学与工程》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2022年第5期62-68,共7页
采用差示扫描量热法(DSC)对环氧树脂ERL-4221阳离子聚合固晶胶的反应动力学进行研究,并利用Kissinger模型对非等温数据进行分析。在阳离子固化剂质量分数为1.0%的条件下,该环氧固化体系的表观活化能为81.76 kJ/mol,表明该反应体系在常...
采用差示扫描量热法(DSC)对环氧树脂ERL-4221阳离子聚合固晶胶的反应动力学进行研究,并利用Kissinger模型对非等温数据进行分析。在阳离子固化剂质量分数为1.0%的条件下,该环氧固化体系的表观活化能为81.76 kJ/mol,表明该反应体系在常温下反应速度较慢,具有明显的潜伏特性。利用T-β外推法及等温固化过程确定了体系固化烘烤工艺为105℃(30 min)+170℃(30 min)。同时,采用芯片剪切力测试及分层试验证实了工艺参数的有效性。研究结果可为该固晶胶固化工艺及应用提供理论支撑。
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关键词
LED封装
小芯片
阳离子
固
化
反应动力学
固晶胶
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职称材料
可靠性分析中固晶胶厚度的测量方法研究
2
作者
伍江涛
《中国集成电路》
2021年第6期85-88,共4页
集成电路生产过程中固晶胶厚度对集成电路的电性能、散热性能、分层及后续的可靠性能方面有巨大影响,因此固晶胶厚度测量是固晶生产过程中重点的控制项目,成品集成电路的可靠性分析中同样需要对固晶胶厚度进行测量,确认固晶胶厚度在控...
集成电路生产过程中固晶胶厚度对集成电路的电性能、散热性能、分层及后续的可靠性能方面有巨大影响,因此固晶胶厚度测量是固晶生产过程中重点的控制项目,成品集成电路的可靠性分析中同样需要对固晶胶厚度进行测量,确认固晶胶厚度在控制范围内。目前的可靠性分析中,一般采用切割、打磨、抛光,再加上测量显微镜切面测量的方法,对试验过程及设备要求较高,一般企业难以满足试验要求。通过实际分析研究,采用集成电路基岛剥离方法,从芯片背面进行固晶胶厚度测量,满足一般企业控制需求,也可进行大数据时的产品可靠性研究。
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关键词
集成电路
可靠性
固晶胶
厚度
基岛剥离方法
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职称材料
白光LED光衰可靠性研究
3
作者
李治强
唐德良
《电子世界》
2014年第23期81-82,共2页
白光LED在LCD背光显示领域应用逐步广泛。与传统CCFL背光相比,其环保和节能的优势十分明显。随着LED价格成本逐渐降低,白光LED将进一步占领LCD背光市场份额,如何提升白光LED寿命及降低白光LED光衰减成为LED业者攻克的最大难题,本文...
白光LED在LCD背光显示领域应用逐步广泛。与传统CCFL背光相比,其环保和节能的优势十分明显。随着LED价格成本逐渐降低,白光LED将进一步占领LCD背光市场份额,如何提升白光LED寿命及降低白光LED光衰减成为LED业者攻克的最大难题,本文就影响白光LED衰减针对材料、封装、PN结温度因素进行分析探讨。
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关键词
白光LED
光衰
晶
片
固晶胶
荧光粉
荧光
胶
水
支架
封装工艺
PN结
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职称材料
导致单管型白光发光二极管快速光衰的实验研究
被引量:
6
4
作者
吴海彬
何素梅
王昌铃
《光学学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2009年第5期1363-1367,共5页
很多国内封装的单管(Lamp)型白光发光二极管(LED)半光衰时间往往较短,这与大功率白光LED有很大不同。为了找出导致单管型白光LED快速光衰的真正原因,在分析国内外研究现状的基础上,对不同老化时期的白光LED样品进行解剖,并对封装内部结...
很多国内封装的单管(Lamp)型白光发光二极管(LED)半光衰时间往往较短,这与大功率白光LED有很大不同。为了找出导致单管型白光LED快速光衰的真正原因,在分析国内外研究现状的基础上,对不同老化时期的白光LED样品进行解剖,并对封装内部结构材质的变化进行分析。实验发现两种现象,一是有些封装体内固晶胶产生黄变,二是有些蓝光芯片上表面会形成一层深黄色薄膜。去除黄变的固晶胶,或者清洗掉芯片上表面的薄膜后重新封装,白光LED光通量均会有较大提高。荧光粉胶体和固晶胶与蓝光芯片直接接触,并对其完全包围,这两种胶体材料的变性老化对单管型白光LED的光衰有直接重要的影响。
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关键词
光学器件
单管型白光发光二极管
光衰
固晶胶
配粉
胶
原文传递
题名
阳离子固化环氧固晶胶在LED小芯片封装中的应用
被引量:
1
1
作者
陈江聪
李秉轩
李衡峰
张淑娟
机构
中南大学材料科学与工程学院
吉安市木林森新材料科技有限公司
吉安市木林森实业有限公司
出处
《高分子材料科学与工程》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2022年第5期62-68,共7页
基金
江西省吉安市双百计划。
文摘
采用差示扫描量热法(DSC)对环氧树脂ERL-4221阳离子聚合固晶胶的反应动力学进行研究,并利用Kissinger模型对非等温数据进行分析。在阳离子固化剂质量分数为1.0%的条件下,该环氧固化体系的表观活化能为81.76 kJ/mol,表明该反应体系在常温下反应速度较慢,具有明显的潜伏特性。利用T-β外推法及等温固化过程确定了体系固化烘烤工艺为105℃(30 min)+170℃(30 min)。同时,采用芯片剪切力测试及分层试验证实了工艺参数的有效性。研究结果可为该固晶胶固化工艺及应用提供理论支撑。
关键词
LED封装
小芯片
阳离子
固
化
反应动力学
固晶胶
Keywords
LED packaging
small size chips
cationic polymerization
kinetics
die attach adhesive
分类号
TN405 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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职称材料
题名
可靠性分析中固晶胶厚度的测量方法研究
2
作者
伍江涛
机构
深圳电通纬创微电子股份有限公司
出处
《中国集成电路》
2021年第6期85-88,共4页
文摘
集成电路生产过程中固晶胶厚度对集成电路的电性能、散热性能、分层及后续的可靠性能方面有巨大影响,因此固晶胶厚度测量是固晶生产过程中重点的控制项目,成品集成电路的可靠性分析中同样需要对固晶胶厚度进行测量,确认固晶胶厚度在控制范围内。目前的可靠性分析中,一般采用切割、打磨、抛光,再加上测量显微镜切面测量的方法,对试验过程及设备要求较高,一般企业难以满足试验要求。通过实际分析研究,采用集成电路基岛剥离方法,从芯片背面进行固晶胶厚度测量,满足一般企业控制需求,也可进行大数据时的产品可靠性研究。
关键词
集成电路
可靠性
固晶胶
厚度
基岛剥离方法
Keywords
integrated circuit
Reliability
Solid gel thickness
Base island stripping method
分类号
TN405 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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职称材料
题名
白光LED光衰可靠性研究
3
作者
李治强
唐德良
机构
四川长虹电子股份有限公司
出处
《电子世界》
2014年第23期81-82,共2页
文摘
白光LED在LCD背光显示领域应用逐步广泛。与传统CCFL背光相比,其环保和节能的优势十分明显。随着LED价格成本逐渐降低,白光LED将进一步占领LCD背光市场份额,如何提升白光LED寿命及降低白光LED光衰减成为LED业者攻克的最大难题,本文就影响白光LED衰减针对材料、封装、PN结温度因素进行分析探讨。
关键词
白光LED
光衰
晶
片
固晶胶
荧光粉
荧光
胶
水
支架
封装工艺
PN结
分类号
TN312.8 [电子电信—物理电子学]
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职称材料
题名
导致单管型白光发光二极管快速光衰的实验研究
被引量:
6
4
作者
吴海彬
何素梅
王昌铃
机构
福州大学机械工程及自动化学院
福建省苍乐电子企业有限公司
出处
《光学学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2009年第5期1363-1367,共5页
基金
福建省自然科学基金(A0610010)资助课题
文摘
很多国内封装的单管(Lamp)型白光发光二极管(LED)半光衰时间往往较短,这与大功率白光LED有很大不同。为了找出导致单管型白光LED快速光衰的真正原因,在分析国内外研究现状的基础上,对不同老化时期的白光LED样品进行解剖,并对封装内部结构材质的变化进行分析。实验发现两种现象,一是有些封装体内固晶胶产生黄变,二是有些蓝光芯片上表面会形成一层深黄色薄膜。去除黄变的固晶胶,或者清洗掉芯片上表面的薄膜后重新封装,白光LED光通量均会有较大提高。荧光粉胶体和固晶胶与蓝光芯片直接接触,并对其完全包围,这两种胶体材料的变性老化对单管型白光LED的光衰有直接重要的影响。
关键词
光学器件
单管型白光发光二极管
光衰
固晶胶
配粉
胶
Keywords
optical devices white lamp-LED luminous attenuation die attaching resin resin mixing phosphor
分类号
TN312 [电子电信—物理电子学]
原文传递
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
阳离子固化环氧固晶胶在LED小芯片封装中的应用
陈江聪
李秉轩
李衡峰
张淑娟
《高分子材料科学与工程》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2022
1
下载PDF
职称材料
2
可靠性分析中固晶胶厚度的测量方法研究
伍江涛
《中国集成电路》
2021
0
下载PDF
职称材料
3
白光LED光衰可靠性研究
李治强
唐德良
《电子世界》
2014
0
下载PDF
职称材料
4
导致单管型白光发光二极管快速光衰的实验研究
吴海彬
何素梅
王昌铃
《光学学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2009
6
原文传递
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0
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