大规模集成电路高温动态老化测试嵌入式图形发生系统的可编程ASIC实现

图形发生系统是大规模集成电路高温动态老化测试的核心子系统。在此 ,采用可编程 ASIC技术成功实现了这一系统。在体系结构及性能指标方面做了很大改进的同时 ,极大地减小了系统的 PCB尺寸 ,首次实现了嵌入方式。

大规模集成电路动态老化测试台图形发生系统设计

本文论述了大规模集成电路动态老化测试台COWWS—12000图形发生系统设计。系统采用了微机集中控制各路独立编程方式,具有结构简单、通用性强等特点。