光伏焦平面器件串音效应的检测图形测试法

根据长波红外焦平面器件研制的需要，在对器件串光效应和测试原理进行分析的基础上，本文首次提出用检测图形测试的方法测量红外焦平面阵列中探测器之间的串音效应。对用于检测光伏焦平面阵列光串音效应的检测图形的结构和原理，具体的测试设备和测试方法，以及由结构设计差异和检测管响应率差异可能引入的误差进行了讨论，并根据红外长波焦平面器件研制过程中的实际测试经验，给出了实用的误差消除方法。在长波ＨｇＣｄＴｅ焦平面阵列的实际研制过程中，该方法对工艺机理的分析和器件参数测试都起了重要的作用。此测试法所用测试设备与常规光电器件测试设备相同，避免了在串音测试上依赖于目前尚不成熟的红外长波小光点技术。

大容量EPROM的随机图形测试方法

基于对EPROM读写特性和故障模型的分析,本文提出了采用随机测试图形的EPROM功能测试方法.这不仅可提高译码电路故障的检测率,而且能切实地反映出存贮单元状态间的耦合故障,比使用传统测试图形的功能测试具有更大的优越性.在微机上由线性反馈移位寄存器产生随机图形并采用快速编程技术成功地实现了用随机图形对EPROM进行测试.

基于89C51RD2单片机的微波驻波图形测试系统

本文以 89C5 1RD2新一代 8位单片机为系统的控制核心 ,以步进马达作传动装置 ,以点阵式液晶为显示器 ,设计一个微波驻波图形测试系统。该系统能够测量驻波比、反射系数、波导波长、阻抗。

以两种建伍扬声器系统为例研讨重视中音域的设计及圆筒状图形测试与听感之间的相关情况

作者系日本建伍公司的产品开发人员，介绍了在开发ＬＳ－Ｍ７、ＬＳ－Ｘ９这两种扬声器系统及其所用单元时是如何从重视中音域出发来采取措施的。对中音单元以圆筒状图形表达的音响空间特性实测和对系统的４００Ｈｚ声压分布实测都给出了比以前有明显改善的结果。

图形测试:多工位模拟和混合信号器件并行测试效率的关键

多工位测试是许多模拟和混合信号器件生产厂家大批量测试的基石.一直以来,模拟和混合信号器件测试系统面临架构的不足致使并行测试效率(PTE:ParallelTestEfficiency)降低。测试系统架构不断地发展寻求并行测试效率的提高。这一组文章说明并讨论多种测试系统硬件和软件的设计改进,产生更高的并行测试效率。

图形测试:多工位模拟和混合信号器件并行测试效率的关键(第二部件)

多工位测试是许多模拟和混合信号器件生产厂家大批量生产测试的基石.随着测试工位数的增加,模拟和混合信号测试系统设计者需要努力克服历来限制并行测试效率(PTE:Parallel Test Efficiency)的架构上的不足。在第一部分中,我们介绍了并行测试效率PTE及其随工位数增加对测试成本的影响,突出了一些效率高的多工位测试系统的重要特性。第二部分我们将介绍pattern-based测试和有关的SmartPin硬件和软件。

生成确定性测试图形的内建自测试方法

为了以低的硬件开销自动生成高效率的确定型测试图形,提出一种新型的内建自测试(BIST)方法.先对原型设计用自动测试图形工具生成长度短、故障覆盖率高的确定性测试图形,然后对生成的图形排序以取得低功耗测试序列,再选择状态机优化和综合方案,最后自动生成BIST电路描述.由于结合了确定性测试和伪随机测试的优点,该方法具有低功耗、长度短、故障覆盖率高、测试图形自动生成等特色,特别适于CMOS组合逻辑电路的测试.基于ISCAS85Benchmark的实验结果表明,所设计的BIST电路在硬件开销、速度、测试功耗等方面均优于传统的伪随机测试电路,测试时间显著减少.

基于CCD工艺的模型参数提取测试图形设计

介绍了一套基于CCD工艺的模型参数提取用测试图形(Testchip)设计方法。该Testchip的设计充分考虑了CCD工艺特征、中测测试条件、CCD放大器特性等各种关键因素,并在对应的工艺线进行流片,得到了完整的测试数据。

一种低功耗测试图形的生成方法

为解决测试图形生成电路功耗高、硬件开销大、故障检测难等问题,提出了一种用于内建自测试的低功耗测试图形生成方法。该方法将种子向量和SIC计数器生成向量进行运算,产生MSIC测试向量。通过设计一种可配置SIC计数器和种子生成电路,证明了该方法中任意的2个MSIC图形在任何情况下都是相异的。以国际基准测试电路ISCAS’89为对象,在nangate 45nm工艺上的仿真实验表明,基于该方法的测试生成电路的平均功耗占被测电路正常工作时平均功耗的1%～3%;与传统的伪随机测试生成电路相比,该测试生成电路的测试功耗降低了5.48%～66.86%,且其所生成的测试图形具有唯一性、低跳变等特性。

测试图形程序的进一步研究：PATTERN抽象及再实现

异构自动测试仪（ＡＴＥ）之间的测试图形程序移植是一项难度很高的工作。通常采用的方法是对测试图形向量进行逐条直移。这样，如果在异构ＡＴＥ测试图形语言之间找不到对应的语言成分，将导致实际有可能成功的移植失败。并且，即使这样移植成功，移植的测试图形程序可保证词法和语法的正确性，但在大多数情况下，这些程序仍不能在目标ＡＴＥ上正确运行。本文在详细分析了传统移植方法后，提出一种基于异构ＡＴＥ功能对等的移植方法，使测试图形程序在移植前后保持其意义的一致性。利用这种方法，可以大大提高测试图程序的可移植性。

硅栅CMOS集成电路测试图形的研究

本文介绍了用于硅栅CMOSIC园片级工艺诊断和可靠性监控的微电子测试图形。重点论述了(1)用于检测漏、源及多晶硅薄层电阻和因扩散及腐蚀引起的横向变化量的组合结构,(2)用于监测CMOSIC动态参数的结构设计及其对工艺的评价。

拷贝法生成微处理器测试图形

本文举例说明 ROMCOPY 法生成 MC6802一类 LSI、VLSI 器件功能测试图形的过程。文章首先简介 ROMCOPY 法概要,接着叙述利用宏定义、宏语句编制宏源图形的方法和过程。然后给出了 MC6802指令的宏定义,在此基础上,编写测试图形程序。进而介绍图形程序的调试方法。最后使用 ROMCOPY 子程序,从样片拷贝出器件的正确期待值,以此制备出一个完整的MC6802逻辑功能测试图形。

基于确定性测试图形的BIST构建方法

为降低内建自测试(Build-in Self Test,BIST)的测试功耗,提出了一种基于确定性测试图形的内建自测试构建方法:首先采用D算法生成测试所需的测试图形,然后使用粒子群算法对其进行优化,使内建自测试的功耗大幅度降低;文中最后以ISCAS’85Benchmark中的部分电路作为实验对象,并给出了测试图形优化前后的功耗数;实验结果证明该方法能够有效降低内建自测试的测试功耗,并且具有方法简单、无需额外硬件开销的特点。

异构ATE测试图形程序的移植研究

异构自动测试仪（ＡＴＥ）之间的测试图形程序移植是一项难度很高的工作．通常采用的方法是对测试图形向量进行逐条直译．这样，如果在异构ＡＴＥ测试图形语言之间找不到对应的语言成分，将导致实际有可能成功的移植失败．并且，即使这样移植成功，被移植的测试图形程序能够保证词法和语法的正确性，但在大多数情况下，这些程序仍不能在目标ＡＴＥ上正确运行．本章在详细分析了传统移植方法后，提出一种基于异构ＡＴＥ功能对等的移植方法，使测试图形程序在移植前后保持其意义的一致性．利用这种方法，可以大大提高测试图程序的可移植性．

测试图形法在Protos自动测试台中的应用

本文简要介绍Protos高速卷烟机自动测试台的工作原理及其图形测试输入法的基本应用。为检验某项功能,先给定输入测试图案,当被测系统的输出响应图案与输出预期响应图案一致时,说明此项功能检验正确。反之,有故障。

基于FEST-Swing模型的图形用户界面测试

图形用户界面是用户与程序交互的工具。一个好的图形用户界面对于一个程序来说非常重要,这需要我们进行细致,严谨的测试。FEST-Swing是一款开源的,免费的图形用户界面测试模块,利用它可以进行自动化图形用户界面测试。另外配上适当的手工测试可以更好的加强图形用户界面的健壮性。

信息安全芯片测试中测试图形实时生成的方法

本文概述了TPM(可信平台模块)安全芯片在信息安全建设中的重要作用,以及TPM安全芯片的特点及测试难点,在测试TPM安全芯片过程中,自动下载密码时,可以根据密码算法的具体情况,采用不同的方法实时生成密码测试图形。本文重点介绍2种在测试TPM安全芯片中测试图形实时生成的方法,这2种方法从生成特定的安全算法密码到对芯片进行密码写入都是自动的、连续的、实时的。经在泰瑞达J750测试平台上实现一款信息安全芯片量产测试,证明了这2种方法是可行性的,高效的。

微处理器测试图形采集程序自动编程系统的设计

提出了微处理器ＭＰ测试图形采集程序自动编程系统的一种设计方案，系统在读入测试开发人员对ＭＰ的描述后，能自动建立ＭＰ的抽象模型并产生直接在Ｓ－１０测试仪上运行的ＦＡＣＴＯＲ语言ＭＰ测试图形采集程序．

存储器测试图形算法概述

存储器的高集成度化、高速化,为存储器测试带来了极大挑战。论文介绍了存储器测试图形的原理和发展,基于传统的存储器测试图形,综合描述了目前国内外几种较为新颖的且可用于实际工业生产的存储器测试图形改进算法。

一种易于线性压缩的测试图形生成方法

为解决VLSI测试中数据量大、功耗高和故障检测难等问题,提出一种易于线性压缩的测试图形生成方法(LCG法).与传统方法不同,LCG法先解析出一类每个向量内部具有线性关系的测试序列,这种线性关系是基于单输入变化序列的,构成的测试序列可有效地减少被测电路内部的开关活动.测试生成时只需搜索测试向量少量的位值,其他位的值按预定义的线性关系解析出,再通过故障模拟的方法确认测试图形.压缩后的测试图形为其少量位的内容,具有压缩率高、易于实现、功耗低和覆盖率高的特点.对ISCAS89中5个最大的基准电路的实验结果表明,LCG法在固定故障覆盖率大于96%的情况下,压缩率都在10倍以上,甚至可以达到100倍以上.