高分辨力PCB裸板图像轮廓快速圆弧探测

当前主流的在线高精度PCB裸板缺陷AOI检测系统均采用基于轮廓矢量化分析比对方法,圆弧探测是实现轮廓矢量化的关键环节。本文提出一种快速的圆弧探测方法,首先采用DP(Douglas-Peucker)算法对轮廓进行曲线抽稀处理,将轮廓分割为直线段基元并计算法向角,然后依次计算各相邻直线段基元的法向角偏差之和,并与基元中点位置值一起形成法向角变换曲线,再次采用DP算法检测变换曲线中的直线段即可完成圆弧探测。本文将圆弧探测简化为两次直线探测,算法复杂度为O(n),具有非常高的计算效率。实验结果表明,本文方法与Halcon商业软件中的圆弧检测算法相比,准确率更高且耗时更少。