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多个叠层芯片封装技术 被引量:1
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作者 杨建生 《电子与封装》 2006年第1期16-19,共4页
叠层芯片封装在与单芯片具有的相同的轨迹范围之内,有效地增大了电子器件的功能性, 提高了电子器件的性能。这一技术已成为很多半导体公司所采用的最流行的封装技术。文章简要叙述了叠层芯片封装技术的趋势、圆片减薄技术、丝焊技术及... 叠层芯片封装在与单芯片具有的相同的轨迹范围之内,有效地增大了电子器件的功能性, 提高了电子器件的性能。这一技术已成为很多半导体公司所采用的最流行的封装技术。文章简要叙述了叠层芯片封装技术的趋势、圆片减薄技术、丝焊技术及模塑技术。 展开更多
关键词 叠层芯封装 圆片减薄 丝焊技术 模塑技术
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叠层芯片封装技术与工艺探讨 被引量:5
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作者 孙宏伟 《电子工业专用设备》 2006年第5期65-74,共10页
论述了在叠层芯片封装的市场需求和挑战。首先采用在LQFP一个标准封装尺寸内,贴装2个或更多的芯片,这就要求封装体内每一个部分的尺寸都需要减小,例如芯片厚度、银胶厚度,金丝弧度,塑封体厚度等,要求在叠层封装过程中开发相应的技术来... 论述了在叠层芯片封装的市场需求和挑战。首先采用在LQFP一个标准封装尺寸内,贴装2个或更多的芯片,这就要求封装体内每一个部分的尺寸都需要减小,例如芯片厚度、银胶厚度,金丝弧度,塑封体厚度等,要求在叠层封装过程中开发相应的技术来解决上述问题。重点就芯片减薄,银胶控制,无损化装片,立体键合,可靠性等进行了详细的介绍。 展开更多
关键词 叠层封装 圆片减薄 裸芯贴装 立体键合 MSL
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碎片的工艺控制研究
3
作者 章文 《电子与封装》 2001年第2期35-36,共2页
本文阐述了碎片产生的原因、危害及对工艺的影响和碎片的控制方法。
关键词 工艺控制 圆片减薄
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