WSI电源分布技术——圆片规模集成技术介绍(六)

本文将讨论WSI器件电气设计中的电源分布技术,包括目标与难点、电源失效机理、修复技术及分布策略.

WSI的时钟分布技术——圆片规模集成技术介绍(五)

时钟分布是WSI器件电气设计中需涉及的一个重要问题.本文将从WSI器件的电路与体系结构设计两方面讨论如何减小时钟线的延迟以及时钟偏斜.最后介绍解决该问题今后可能采用的技术.

缺陷与成品率——圆片规模集成技术介绍(一)

本文将讨论缺陷的起因、分类、分布规律及成品率模型.

配置技术——圆片规模集成技术介绍(二)

本文将讨论配置技术.包括配置的概念、分类及四类常用的配置模式.

一个有效的圆片规模布局算法

本文提出了一个圆片规模布局算法,它是国外一个相应算法的改进形式,区别在于利用力定向布局法的方式不同。在相对位置阶段,该算法利用布局的层次特性将需确定所有电路元件相对位置的问题缩减至仅需确定宏电路元件相对位置的问题;在实际位置阶段,采用分治策略和取消前阶段层次划分的方式回避了需确定任意元实际位置的问题。其时间复杂度远低于国外相应算法。

集成电路可靠性评价技术

对工艺过程进行评估的目的在于找出存在可靠性缺陷的地方,它是针对技术磨损的机理,通过对专门设计的测试结构进行封装级或圆片级可靠性测试,获取器件的可靠性模型参数和可靠性信息。超大规模集成电路主要的三个的失效机理分别是热载流子注入效应、金属化电迁移效应和氧化层的TDDB击穿。本文对这三种失效机理分别进行了介绍,对各自对应的可靠性模型进行了说明,强调了可靠性评价的重要性,给出了可靠性评价在工艺中的应用流程图。

WSI系统的发展概况

本文介绍圆片规模集成的概念,发展圆片规模集成技术的意义,并按体系结构的分类回顾圆片规模集成系统发展的状况.

实现技术与计算机体系结构

本文主要从实现技术的角度来看计算机的RISC体系结构、Array体系结构、WSI体系结构以及Neuron体系结构的兴起与发展。

计算机小型化技术思考

本文主要讨论了以芯片制造技术为基础的计算机小型化技术。