X射线测量尺寸校准技术在GIS设备缺陷检测中的应用

在役GIS设备布置紧凑、结构复杂,现场X射线检测受空间、高度以及检测工装等限制而导致其拍摄角度受限,常出现射线束中心偏移、探测器翻转等非垂直透照情况,其X射线检测图谱出现平移、拉伸等变形,使得GIS部件尺寸的测量误差较大,部分缺陷难以准确定性。文中针对以上典型问题,建立了垂直透照以及X射线束中心偏移、探测器翻转、X射线束中心偏移且探测器翻转等非垂直透照情况下的几何模型,研究了X射线束中心偏移、探测器翻转角度对X射线检测图谱尺寸的影响规律,提出了不同非垂直透照情况下的X射线检测图谱校准公式,开发了一种非垂直透照下的在役GIS设备X射线检测缺陷尺寸测量校准方法,实现了全透照条件下缺陷尺寸的测量与校准。相关研究成果在现场超高压GIS隔离开关缺陷的诊断定性中取得了良好的应用成效。