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MMIC在片测试探头的研究与设计 被引量：2
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作者 周凌云 王卫东 樊德森 《微波学报》 CSCD 北大核心 2001年第4期80-84,共5页
微波单片集成电路 (MMIC)在片测试技术是应用于 MMIC和高速集成电路研究、生产的新型测试技术。 MMIC在片测试探头是 MMIC在片测试系统的关键部件。本文研究并设计了介质基片共面波导 (CPW)探头 ,测试并分析了探头性能。该探头在 2～ 18... 微波单片集成电路 (MMIC)在片测试技术是应用于 MMIC和高速集成电路研究、生产的新型测试技术。 MMIC在片测试探头是 MMIC在片测试系统的关键部件。本文研究并设计了介质基片共面波导 (CPW)探头 ,测试并分析了探头性能。该探头在 2～ 18GHz范围内插入损耗小于 1.5 d B,回波损耗大于 16 d 展开更多
关键词 微波单片集成电路 在片测试 在片测试探头 共面波导
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