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Load Pull系统高频测试误差分析及新型测试方案
被引量:
1
1
作者
汪珍胜
郑惟彬
+3 位作者
王维波
陶洪琪
钱峰
徐波
《固体电子学研究与进展》
CAS
CSCD
北大核心
2016年第4期312-317,共6页
负载牵引(Load pull)测试系统是一个复杂的微波测试系统,在不同的频段有不同的实现方案以及测试误差。本文从Load pull系统及待测器件的固有特性出发,分析了系统高频测试误差产生的原因,并且提出了一种提高系统高频测试精度的新型测试...
负载牵引(Load pull)测试系统是一个复杂的微波测试系统,在不同的频段有不同的实现方案以及测试误差。本文从Load pull系统及待测器件的固有特性出发,分析了系统高频测试误差产生的原因,并且提出了一种提高系统高频测试精度的新型测试方案。
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关键词
负载
牵引
在片高频负载牵引
毫米波
负载
牵引
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职称材料
题名
Load Pull系统高频测试误差分析及新型测试方案
被引量:
1
1
作者
汪珍胜
郑惟彬
王维波
陶洪琪
钱峰
徐波
机构
南京电子器件研究所
出处
《固体电子学研究与进展》
CAS
CSCD
北大核心
2016年第4期312-317,共6页
文摘
负载牵引(Load pull)测试系统是一个复杂的微波测试系统,在不同的频段有不同的实现方案以及测试误差。本文从Load pull系统及待测器件的固有特性出发,分析了系统高频测试误差产生的原因,并且提出了一种提高系统高频测试精度的新型测试方案。
关键词
负载
牵引
在片高频负载牵引
毫米波
负载
牵引
Keywords
load pull
high frequency load pull on wafer
millimeter microwave load pull
分类号
TN015 [电子电信—物理电子学]
下载PDF
职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
Load Pull系统高频测试误差分析及新型测试方案
汪珍胜
郑惟彬
王维波
陶洪琪
钱峰
徐波
《固体电子学研究与进展》
CAS
CSCD
北大核心
2016
1
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职称材料
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