单模光纤弯曲损耗的计算和测试与应用

对单模光纤弯曲损耗与弯曲半径及波长的关系做了理论计算。利用简单实用的实验方法,测量了1550nm和1625nm波长下G652光纤的弯曲损耗特性。结果表明,弯曲损耗测试值与理论计算具有较好相关性,弯曲损耗不仅与弯曲半径关系密切,随着传输光波长的变化也十分明显。利用这些特性,可以设计制造多种光纤传感器、光衰减器等无源器件。文中还介绍设计并实现了一种可望在光纤线路上获得广泛应用的在线光纤损耗微调器。

光纤弯曲特性及其应用

为了对光纤弯曲形态进行全面系统地归纳与描述,提出在临界弯曲半径的基础上,把光纤的宏弯细分成了断弯、允弯和限弯三种情况进行讨论与分析,并重点讲述了这三种弯曲形态的定义和相应弯曲半径的测试方法与结果。通过对G.652光纤限弯范围特性的研究,设计并实现了一种可望获得广泛应用的在线光纤损耗微调器。最后,指出允弯半径应该列为每种光纤的基本特征参数之一。