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如何实现在速故障点的测试
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作者 王君虎 《科技与生活》 2010年第3期92-92,共1页
提出了一套采用片内PLL时钟,实现在速扫描测试电路故障的方法,包括设计思路,设计实现方法,电路的结构和测试向量的产生,以及仿真验证这个电路结构。
关键词 可测试性设计 在速故障 片内时钟OCC(On CHIP Clock) PLL
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