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如何实现在速故障点的测试
1
作者
王君虎
《科技与生活》
2010年第3期92-92,共1页
提出了一套采用片内PLL时钟,实现在速扫描测试电路故障的方法,包括设计思路,设计实现方法,电路的结构和测试向量的产生,以及仿真验证这个电路结构。
关键词
可测试性设计
在速故障
片内时钟OCC(On
CHIP
Clock)
PLL
下载PDF
职称材料
题名
如何实现在速故障点的测试
1
作者
王君虎
机构
上海交通大学微电子学院
出处
《科技与生活》
2010年第3期92-92,共1页
文摘
提出了一套采用片内PLL时钟,实现在速扫描测试电路故障的方法,包括设计思路,设计实现方法,电路的结构和测试向量的产生,以及仿真验证这个电路结构。
关键词
可测试性设计
在速故障
片内时钟OCC(On
CHIP
Clock)
PLL
分类号
U269.6 [机械工程—车辆工程]
下载PDF
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作者
出处
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1
如何实现在速故障点的测试
王君虎
《科技与生活》
2010
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