地质环境样品中挥发酚分析现状与进展

挥发酚被列为环境优先控制的有机污染物,已成为评价环境污染的重要指标之一。该文简述了挥发酚的化学性质及地质环境来源,概括了国内外挥发酚测定的相关标准方法,从样品预处理技术和检测技术两方面综述了近年来地质环境样品中挥发酚分析的研究现状。重点对溶剂萃取、蒸馏、固相萃取、固相微萃取和吹扫捕集等样品预处理技术,以及4-氨基安替比林分光光度法、紫外和荧光分光光度法、溴化容量法、气相色谱法、液相色谱法和酚生物传感器法等技术在地质环境样品中挥发酚分析上的应用进行了较为全面的总结,并对其未来的发展趋势进行了展望,为进一步研究挥发酚的分析技术及其环境应用提供参考。

电弧直读发射光谱测定地质环境样品中银硼锡

采用电弧直读发射光谱法测定地质环境样品中银、硼、锡等元素,通过选择合适的石墨电极,优化激发条件,对背景扣除及积分时间等条件进行了一系列的试验,银、硼、锡方法检出限分别为0.009、0.72、0.33 mg/kg,方法精密度均小于10.5%,并通过土壤、水系沉积物、岩石国家一级标准物质验证,得到满意的结果,本法高效便捷,环保实用,可应用于地质环境样品的检测工作。

X射线荧光光谱法(XRF)测定环境地质样品中痕量氯、溴的试验研究

研究了对于环境地质样品中痕量元素Br、Cl的XRF法分析方法,采用水系沉积物、土壤、岩石等标准物质做工作曲线,用仪器软件的数学模式校正样品的基体效应和元素间的谱线重叠效应。制样采用硼酸镶边垫底粉末压片法。测定结果表明,检出限、准确度和相对标准偏差(RSD%)均达到国家对环境地质样品分析的质量标准要求。

ICP-AES在地质与环境样品分析中的应用

通过试验,确定了ICP-AES测定土壤、岩石、水系沉积物、水样以及植物等各类样品技术参数,制定了应用ICP-AES快速准确测定地质、环境样品中多元素的分析系统,为地质科学研究和环境评价提供了大量可靠信息,很好地满足了地质和环境科学研究的需要。

膜去溶-电感耦合等离子体质谱法测定环境地质样品中的镉

应用电感耦合等离子体质谱法(ICP-MS)分析环境地质样品中的Cd时,Zr、Mo元素的氧化物和氢氧化物会对Cd造成严重干扰,导致结果有明显的偏差。针对此问题,本文建立了膜去溶-ICP-MS直接测定环境地质样品中微量Cd的分析方法,该方法可有效地消除Zr、Mo氧化物和氢氧化物对Cd的干扰,保证结果准确、可靠。膜去溶-ICP-MS相比于常规ICP-MS测定Cd的方法,可将Zr、Mo氧化物和氢氧化物对Cd的干扰降低到0.001%,检测灵敏度提高3.5倍左右。在给定条件下,Cd的检出限为0.28 ng/L,测定下限为2.2 ng/L,精密度(RSD,n=12)为2.2%。利用该方法分析20种岩石、土壤和沉积物国家标准物质的测定值与标准值相符,表明膜去溶-ICP-MS法直接测定环境地质样品中痕量或超痕量Cd时具有一定的应用潜力。同时,用该方法对2016年中核集团组织的实验室间两个比对样品中的Cd进行测定,稳健Z比分数分别为0.500和-0.964,Z的绝对值都小于2。