时空分辨平焦场光栅谱仪

利用 2 4 0 0线 /mm或 12 0 0线 /mm的平焦场光栅谱仪、门控宽微带X光单分幅相机及可见光CCD记录系统建立了一套时空分辨平焦场谱仪X光谱诊断系统。介绍了该谱仪系统的结构、工作原理和实验调试方法。利用该谱仪在星光激光装置上进行了时间分辨铝等离子体发射谱线的实验测量 ,获得了清晰的时间分辨铝等离子体谱线。在神光Ⅱ装置上初步观测到了时空分辨铝样品吸收谱 ,谱分辨为 0 .0 2～ 0 .0 5nm。

平场光栅谱仪相对衍射效率测量

以激光碳等离子体作为软Ｘ射线源，同时用平场光栅谱仪、常栅距光栅谱仪测量了类氢和类氦离子谱线强度，以一级谱线强度为标准，给出了平场光栅谱仪高级次光谱的相对衍射效率。

用平场光栅谱仪现场标定5FW X光底片

采用像散模式的平场光栅谱仪作为分光元件，点状镁激光等离子体Ｘ射线源为原始光源，获得均匀线状单色软互射线再生源，在此基础上，用多阶梯衰减膜为相对曝光强度标尺，现场标定了上海感光胶片厂生产的５ＦＷ无保护膜Ｘ光底片，给出了５．０ｎｍ～８．０ｎｍ间的底片响应特性．

单发实验测量软X射线多层膜反射镜反射特性

提出了一种单发实验测量软 X射线波段多层膜反射镜反射特性的简易方法。实验采用激光等离子体软 X射线源作为光源 ,用平焦场光栅谱仪分光 ,在光路中引入掠入射镜以消除高级次谱的影响 ,用软 X光 CCD记录 ,在一发激光打靶实验中 ,测量了设计中心波长为 1 3 .9nm的