场发射环境扫描电子显微镜上阴极荧光谱仪特点及其在锆石研究中的应用

锆石等测年矿物的阴极荧光(CL)图像分析是矿物微区成分分析和U(Th)-Pb年龄测定及其地质意义讨论的必要性前期工作。文中介绍了一套由场发射环境扫描电子显微镜和高性能阴极荧光谱仪联合构成的CL分析系统，它在CI成像质量、图像分辨率及CL谱分析等方面具有明显优势。利用这一系统获得的锆石高清晰CL图像及CL谱图分析结果显示其在锆石等发光矿物的微区结构特征研究和成因类型鉴别中有广泛的应用前景。

基于扫描电子显微镜的单根一维纳米材料原位场发射性能研究

基于扫描电子显微镜和纳米探针技术,展示了一维纳米材料原位场发射的测量方法和实例。实验以钨针尖为接收极,纳米材料为发射极,通过结合扫描电子显微镜的实时成像功能,纳米探针的精确操纵及电学测量技术以及激光辐照功能,系统研究了极间距离D、形貌变化、吸附气体和激光注入对单根多壁碳纳米管和氧化锌纳米线场发射性能的影响。结果表明,当D远小于纳米材料长度L的3倍时,D越小,开启场强和阈值场强越大,场发射性能越弱。此外,纳米线尖端曲率半径越大,场增强因子越小,场发射性能越弱。研究还发现O2的脱附和激光辐照有助于纳米材料场发射性能的提高。

LEO SUPRA系列热场发射扫描电子显微镜

本文介绍LEOSUPRA系列热场发射扫描电子显微镜的性能及特点 ,主要包括肖特基场发射电子源、电子光学系统以及检测器等。

场发射扫描电子显微镜观测弱导电金属有机框架材料的参数探究

金属有机框架材料(MOFs)的形貌结构对其性能应用具有很大影响,但MOFs普遍存在导电性差且对电子束敏感等问题,在进行扫描电子显微镜(SEM)测试时容易损伤样品,发生荷电现象.因此摸索合适的测试参数,对获得高质量的MOFs扫描电子显微镜图像具有重要意义.以MIL-101(Cr)、Fe-MOF、Mn-MOF、ZIF-67(Co)这4种典型的MOFs为例,主要探究了加速电压、电子束流、工作距离、探头及喷金对其成像效果的影响.结果表明,升高加速电压可有效提高图像分辨率,但同时电子束穿入深度增大,可能导致电荷击穿效应对其表面结构造成破坏.适当增大束流可提高图像信噪比,但过大的束流会导致纳米颗粒边缘变钝,因此选用0.1~0.4nA中等束流为佳.在选择探头时需注意,艾弗哈特-索恩利探头(ETD)和透镜内二次电子(T2)探头所成图像立体感较好,透镜内背散射电子(T1)探头的立体感弱,但衬度较好,柱内二次电子(T3)探头分辨率最佳,但更容易荷电,显得颗粒扁平.而喷金处理可有效提高样品的导电性.以上结果对使用SEM探究MOFs形貌结构具有一定的借鉴作用.

关于质子交换膜燃料电池膜的扫描电子显微镜图像的荷电现象研究

利用蔡司GeminiSEM500场发射扫描电子显微镜观察不导电的质子交换膜燃料电池基底膜在喷镀处理前后,使用不同的二次电子探测器观察图像的荷电情况。结果显示:inlens模式下,即使对隔膜做了喷镀处理,荷电现象依然很明显;而使用SE2模式拍摄的图片,即使是未做喷镀处理,图像的荷电现象明显减少。分析不同的加速电压下,不同的镜筒拍摄模式拍摄的图片的荷电情况,结果显示:随着加速电压增大,图片的荷电效应越大;降低加速电压,可以明显减轻图像的荷电现象,在合适的电压下,对于导电性较差的隔膜样品,使用SE2模式拍摄下,即使不做喷镀处理也可以有效消除图像的荷电现象。

冷场发躬扫描电子显微镜

场发射扫描电了显微镜（ScanningElectronMicroscope）是我校于2012年购置的辽西地区唯一一一台冷场发射扫揣电了显微镜，放置于实验管理中心综合实验楼B107室。扫描电r显微镜是一种功能齐全、性能优越、用途J。’泛的一种仪器。

Nova NanoSEM超高分辨率扫描电子显微镜

现代科学技术，特别是纳米技术、半导体等领域的高速发展对微观观察、表征和分析工具提出更高的、更苛刻的要求。目前的场发射扫描电子显微镜对新的应用要求面临越来越多难以克服的障碍，如：样品表面对电子束特别敏感，样品表面容易产生污染，样品不允许进行表面处理，样品上导电材料和非导电材料并存，等等。

场发射扫描电镜荷电现象的研究及参数优化

扫描电子显微镜主要用于样品显微结构的表征分析,在科研和实际工作中应用广泛。荷电现象是最常见的严重影响到SEM图像质量的现象之一,它会造成图像的反差异常、形变等,在导电性不好或很差的样品形貌表征中极为常见。文中以几种导电性较差样品,如陶瓷、倍他环糊精、Si O2、细菌等为对象,通过实验比对后发现,通过加速电压、探头选择、信号选择、图像采集方式等参数的调节能够有效减轻SEM图像的荷电现象,从而提高了图像质量,获得了更为真实的显微结构信息。

场发射扫描电镜研究实验条件对片形Fe@Ag复合粒子表面形貌的影响

利用场发射扫描电子显微镜(FESEM)研究了用液相化学还原银技术制备片形Fe@Ag核壳复合粒子过程中的反应条件(还原剂的种类、表面活性剂的浓度、pH值、反应温度、粉体的装载量)对Fe@Ag复合粒子表面形貌的影响规律。结果表明FESEM在该研究工作实验条件的优化和选择过程中发挥了重要的作用。

不同参数选择对场发射扫描电镜图像的影响

场发射扫描电子显微镜(FESEM)是扫描电镜的一种,主要用于对样品显微结构的表征,同时还能定性、定量地获得样品微观区域内的化学成分和结构信息。目前作为一种先进的测试技术手段,FESEM在科学研究、工业生产和刑侦物证等众多领域中得到广泛的应用。本文研究了加速电压、工作距离、探头选择、信号选择等不同参数对FESEM图像的影响,并针对一些材料的形貌表征提出了较佳的参数选择。

基于信息化平台的场发射扫描电镜实验室管理

场发射扫描电子显微镜作为微观物质形貌和化学组分分析的主要设备,在科研和教学中起到了重要的支撑作用。该文以体制建设为基础,介绍了扫描电镜实验室基于实验室综合管理平台的人员培训和基于仪器设备共享平台的仪器使用及维护保养工作。基于信息化平台的实验室管理保障了扫描电镜的安全运行和高效利用。

纳米石墨片的制备及场发射特性

将可膨胀石墨粉放入家用微波炉中进行微波辐照,使石墨粉发生燃烧膨胀,将燃烧的产物用无水乙醇超声后旋涂于硅片上,用扫描电子显微镜(SEM)观察其形貌,得到仅几纳米厚的准二维结构的纳米石墨片。对其进行场发射特性测试,结果显示其具有优异的场发射性能,其开启场强为5.9V/μm,对应的电流密度为0.01mA/cm2。在场强为10.25V/μm时,得到最大发射电流密度为5.9mA/cm2。该纳米石墨片制作方法简单、快捷,可成为一种优异的准二维场发射电子源。

场发射扫描电子显微镜

主要技术与性能指标,SEM 5000,电子枪类型:肖特基场发射电子枪,分辨率:1.0 nm@15 kV,SE;1.5 nm@1 kV,SE;0.8 nm@30 kV,STEM,放大倍率:1-2500000×,加速电压:20 V-30 kV,样品台:五轴全自动样品台SEM 4000,电子枪类型:肖特基场发射电子枪,分辨率:1.0 nm@30 kV。

场发射扫描电子显微镜

主要技术与性能指标,KYKY-EM8100,分辨率:0.9 nm@30 kV(SE),1 nm@15 kV(SE),3 nm@1 kV(SE)KYKY-EM8000,分辨率:1.5 nm@15 kV(SE),3 nm@30 kV(BSE),主要应用,材料的微观表征、失效分析、半导体检测、生命科学研究、生物医药材料分析等。

扫描隧道显微镜钨针尖的制备与表征

采用直流电化学刻蚀方法制备扫描隧道显微镜钨针尖,研究了电化学刻蚀过程中NaOH溶液浓度、钨丝浸入长度和刻蚀电压对针尖形貌的影响。通过扫描电子显微镜(SEM)测量针尖曲率半径和针尖纵横比值,以表征针尖的尺寸和形状;通过能谱仪(EDS)分析针尖表面成分,以表征表面清洁度;通过场发射显微镜(FEM)得到Fowler-Nordheim (F-N)曲线来检测针尖发射性能。实验结果表明,当溶液浓度为2 mol/L、钨丝浸入长度为4 mm、刻蚀电压为3 V时,可以得到曲率半径约为100 nm、纵横比值为13的针尖,且表面无钨的氧化层。FEM结果显示当对针尖施加500 V的负偏压时,针尖可以稳定发射50 nA量级的电流,且针尖性能具有良好的一致性。

反应浓度对ZnO纳米线场发射性能的影响

在电磁学发展史上,金属场发射理论的建立为场发射领域发展的基础,场发射自从1928年以来,就成为了研究热门领域之一,场发射器件应用于许多领域,如场发射扫描电子显微镜和平板显示器等设备仪器。然而,近年来,场发射应用面临着缺乏高质量、高效、稳定的场发射材料的问题。由于缺乏良好的场发射阴极材料,场发射技术在国内外实际生产中却较少地运用。