实用场发射电子枪虚源半径的测量

本文在分析产生和影响实用场发射电子枪(FEG)虚源半径各种因素的基础上,提出一种直接测量FEG虚源半径的新方法——场电子显微镜(FEM)法。用该法对一实际FEG的虚源半径作了实验测定,并与著名的球——锥面模型进行比较,结果是一致的。表明该方法不仅简单且行之有效,具有实用价值。