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题名TSV结构SiP模块的等效建模仿真与热阻测试
被引量:9
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作者
李逵
张庆学
张欲欣
杨宇军
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机构
西安微电子技术研究所
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出处
《半导体技术》
CAS
北大核心
2020年第12期982-987,共6页
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基金
国家重大科技专项资助项目(2017ZX01011104)。
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文摘
基于硅通孔(TSV)结构的系统级封装(SiP)模块内部存在多个微焊点层,数量众多的微焊点与模块尺寸差异较大,使得建模时网格划分困难和仿真计算效率低。研究了TSV结构微焊点层的均匀化等效建模方法,以TSV结构内的芯片微焊点层作为研究对象,通过仿真和理论计算其等效导热系数、等效密度和等效比热容等热特性参数,建立SiP模块的详细模型和等效模型进行仿真分析,并基于瞬态双界面测量方法测出SiP模块的结壳热阻值,再对比分析详细模型和等效模型的仿真热阻值和测量偏离值。结果表明:围绕微焊点层结构的均匀化等效建模方法具有较高的仿真准确度,且计算效率显著提高,适用于复杂封装结构模块的热仿真分析。
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关键词
硅通孔(TSV)结构
微焊点层
均匀化等效建模
热阻测试
系统级封装(SiP)
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Keywords
through silicon via(TSV)structure
micro-solder layer
homogenization equivalent modeling
thermal resistance test
system in package(SiP)
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分类号
N305.92
[自然科学总论]
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