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基于有界模型检测的门级软件自测试方法
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作者 张颖 张嘉琦 +1 位作者 王真 江建慧 《同济大学学报(自然科学版)》 EI CAS CSCD 北大核心 2018年第11期1575-1581,共7页
提出了基于有界模型检测的门级软件自测试方法.将处理器中的模块简化成约束模块,缓解状态爆炸问题.将难测故障的触发条件逐个转化成性质并且采用有界模型检测技术,搜索触发这些性质的违例.最后,将违例映射成测试指令序列,并为测试指令... 提出了基于有界模型检测的门级软件自测试方法.将处理器中的模块简化成约束模块,缓解状态爆炸问题.将难测故障的触发条件逐个转化成性质并且采用有界模型检测技术,搜索触发这些性质的违例.最后,将违例映射成测试指令序列,并为测试指令序列添加观测指令序列,构成自测试程序.实验结果表明:该方法在不引起状态爆炸问题的情况下,有效地测试控制器中难以测试的故障,提高了在线测试的测试质量. 展开更多
关键词 基于软件的自测试(SBST) 模型检测 抽象
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SOC片上嵌入式微处理器核的可测试性技术 被引量:1
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作者 雷加 严云锋 《国外电子测量技术》 2007年第4期6-9,共4页
本文介绍了SOC片上嵌入式微处理器核的各种可测性方法,从是否添加可测性电路来分,可分为基于硬件的自测试方法和基于软件的自测试方法。基于硬件的自测试方法是利用各种可测性设计技术实现对微处理器核的测试,包括插入DFT测试电路的方... 本文介绍了SOC片上嵌入式微处理器核的各种可测性方法,从是否添加可测性电路来分,可分为基于硬件的自测试方法和基于软件的自测试方法。基于硬件的自测试方法是利用各种可测性设计技术实现对微处理器核的测试,包括插入DFT测试电路的方法和基于BIST技术的功能性测试方法。本文提出了一种BIST型的具体测试结构,可用于测试一个简单8位处理器核;基于软件的自测试方法则是利用处理器核本身的指令集来实现自我测试。文中最后分析了这2类测试方法的优缺点和未来微处理器核的测试发展方向。 展开更多
关键词 片上系统 嵌入式微处理核 可测性设计 基于软件的自测试 基于硬件的自测试
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