数字音频广播基带解码芯片的可测试性设计

介绍了一款数字音频广播基带解码芯片的可测试性设计,主要包括扫描测试(Scan Test)、存储器内建自测试(BIST)和电流测试。为了提高测试可靠性和芯片良品率,在扫描测试中,采用分级时钟树综合方法;在存储器测试中,采用分等级、分区域的RAM测试策略。为了降低设计复杂度,将所有测试结果都直接与芯片IO复用,并采用封装后再测试的方法,以降低测试成本。最终使用12条扫描链,扫描测试的覆盖率为96.2%。芯片量产后的测试结果表明,经过检测后的芯片在产品应用中全部工作正常,证明了可测试性设计的有效性。