高密度硬盘介质基本磁特性参数高精度测量

分析了影响VSM精确测量高密度硬盘介质磁基本特性参数的几个因素———仪器定标、检测线圈安装位置、锁相放大的时间常数、外加磁场的扫描周期、盘基衬底噪声和退磁场等 ,在综合考虑并消除诸因素的影响后 ,使自制高密度硬盘盘片介质的磁基本特性参数获得了较高精度 ,通过本VSM测试系统 ,得到磁记录介质的平滑磁滞回线 ,通过多次测量 ,由磁滞回线计算的磁基本特性参数相对误差小于 1 % .