彩色显像管中片状堵孔物的研究及对策

彩管生产中，造成荫罩堵孔的原因很多，而片状物造成的堵孔往往是突发量大，持续时间长，本文重点对片状物堵孔的原因进行了研究，并提出一些常用的对策方法。

CDT荫罩堵孔异物的X射线能谱分析

本文论述了利用扫描电子显微镜进行X射线能谱分析的原理，并对CDT制造过程中荫罩堵孔物特征X射线能谱图进行分析对比，明确堵孔物的成分及来源，为不良对策提供依据。