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高可靠领域中应用塑封器件的有效评价
被引量:
5
1
作者
李巍
宋玉玺
童亮
《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
2014年第4期305-308,314,共5页
介绍了塑封器件的优缺点以及发展情况,针对塑封半导体器件本身在材料、结构和工艺等方面的特点,对塑封器件的失效模式和在试验中暴露的问题进行探讨,针对塑封器件的温度适应性、密封性、工艺控制及使用长期可靠性方面制定了相应的质量...
介绍了塑封器件的优缺点以及发展情况,针对塑封半导体器件本身在材料、结构和工艺等方面的特点,对塑封器件的失效模式和在试验中暴露的问题进行探讨,针对塑封器件的温度适应性、密封性、工艺控制及使用长期可靠性方面制定了相应的质量评价方案。半导体塑封器件通过质量评价方案的试验项目,包括筛选试验、可靠性鉴定试验和破坏性物理分析(DPA)三方面的试验,降低了塑封器件在应用中的风险,对我国高可靠领域中对塑封器件的选用具有一定的借鉴意义。
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关键词
塑封
器件
(
pem
)
高可靠性
失效模式
评价
方案
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职称材料
题名
高可靠领域中应用塑封器件的有效评价
被引量:
5
1
作者
李巍
宋玉玺
童亮
机构
国家半导体器件质量监督检验中心
出处
《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
2014年第4期305-308,314,共5页
文摘
介绍了塑封器件的优缺点以及发展情况,针对塑封半导体器件本身在材料、结构和工艺等方面的特点,对塑封器件的失效模式和在试验中暴露的问题进行探讨,针对塑封器件的温度适应性、密封性、工艺控制及使用长期可靠性方面制定了相应的质量评价方案。半导体塑封器件通过质量评价方案的试验项目,包括筛选试验、可靠性鉴定试验和破坏性物理分析(DPA)三方面的试验,降低了塑封器件在应用中的风险,对我国高可靠领域中对塑封器件的选用具有一定的借鉴意义。
关键词
塑封
器件
(
pem
)
高可靠性
失效模式
评价
方案
Keywords
plastic encapsulated microcircuit (
pem
)
high reliability
failure mode
evalua-tion
scheme
分类号
TN306 [电子电信—物理电子学]
下载PDF
职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
高可靠领域中应用塑封器件的有效评价
李巍
宋玉玺
童亮
《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
2014
5
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