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PBGA焊接开裂失效原因分析及改善
被引量:
1
1
作者
刘冬
周刚
《印制电路信息》
2010年第8期63-66,共4页
由于PBGA组件点位于四件与PCB之间,焊点的检查和检修成本很高,控制PCB组件焊接失效显得尤为重要。文章通过对焊接失效的焊盘镍层、金层结构进行了SEM、X-RAY分析导致焊接失效产生的主要原因,并针对此现象进行控制与改善。
关键词
塑封球面阵列
富磷层
开裂
下载PDF
职称材料
题名
PBGA焊接开裂失效原因分析及改善
被引量:
1
1
作者
刘冬
周刚
机构
惠州中京电子科技股份有限公司
出处
《印制电路信息》
2010年第8期63-66,共4页
文摘
由于PBGA组件点位于四件与PCB之间,焊点的检查和检修成本很高,控制PCB组件焊接失效显得尤为重要。文章通过对焊接失效的焊盘镍层、金层结构进行了SEM、X-RAY分析导致焊接失效产生的主要原因,并针对此现象进行控制与改善。
关键词
塑封球面阵列
富磷层
开裂
Keywords
PBGA
rich phosphate
layer crack
分类号
TN41 [电子电信—微电子学与固体电子学]
下载PDF
职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
PBGA焊接开裂失效原因分析及改善
刘冬
周刚
《印制电路信息》
2010
1
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