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塑封继电器标志移印常见质量缺陷及对策
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作者 张浩华 张碧娟 《机电元件》 2001年第2期21-23,51,共4页
文章介绍了塑封继电器标志移印过程中常见质量缺陷和技术问题,在简要分析、讨论其产生的原因的同时,提出了相应的解决措施。
关键词 塑封继电器标志 移印工艺 质量缺陷
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