增感屏-胶片组合体系的威纳频谱测试探讨

目的 通过实验测试增感屏 胶片组合体系的威纳频谱 (Wienerspectrum ,WS) ,评价X线照片的粒状性。方法 制作CaWO4 屏 Kodak片、BaFCl:Eu屏 Kodak片、T颗粒技术 3种增感屏 胶片组合体系的 10cm× 10cm粒状性抽样照片 ,用显微密度计扫描 ,获得 10万个密度值 ,作为离散随机信号来处理 ,用快速傅立叶变换 (fastFouriertransform ,FFT)计算WS。结果 (1)BaFCl:Eu屏 Kodak片的WS值 :当空间频率为 0 1LP/mm时 ,WS值为 8 2 6× 10 -5mm2 ,分别是T颗粒技术、CaWO4 屏 Kodak片取得照片WS值的 2 2 5倍、1 5 3倍 ;当空间频率为 0 5LP/mm时 ,WS值为 5 2 3× 10 -5mm2 ,分别是T颗粒技术、CaWO4 屏 Kodak片取得照片WS值的 2 6 8倍、1 42倍。 (2 )管电压由 80kV增加到 90kV时 ,T颗粒技术在各频率下的WS值均有所增加。结论 BaFCl:Eu屏 Kodak片组合体系的WS最大 ,T颗粒技术改善了照片的斑点问题 ,其WS值最小 ,故最好是采用T颗粒技术。