XenoⅢ粘接系统对复合树脂修复根面龋术后敏感发生率观察

目的：观察应用XenoⅢ粘接系统对复合树脂修复根面龋术后敏感发生率的影响。方法：52倒患者（患牙60颗），随机分为两组，实验组25倒（30颗患牙）采用登士伯XenoⅢ粘接系统，对照组27例（30颗患牙）使用登士伯磷酸全酸蚀牙本质粘接系统（Prime＆BondNT），充填材料为登士伯配套的复合树脂。临床观察时间为术后1周、1个月及3个月。结果：实验组治疗1周后敏感发生率3．33％，1个月后无过敏症状发生；对照组治疗1周后敏感发生率16．67％，1个月后敏感发生率10％．3个月后敏感发生率3．33％。术后1周，两组差异有显著性。结论：XenoⅢ粘接系统操作步骤简单，效果更好。