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复合添加ZnO/V_2O_5对(Zr_(0.8)Sn_(0.2))TiO_4陶瓷性能的影响
1
作者
于轩
秦旺洋
+2 位作者
贾路方
钱莹
丁东
《电子与封装》
2015年第2期40-43,48,共5页
讨论了复合添加Zn O/V2O5对(Zr0.8Sn0.2)Ti O4介质陶瓷烧结机制和微波介电性能的影响。结果表明:Zn O/V2O5对(Zr0.8Sn0.2)Ti O4的烧结有一定的促进作用,但Zn O/V2O5添加量的增大会造成晶格缺陷和残留气孔增多,从而导致材料的密度和Q...
讨论了复合添加Zn O/V2O5对(Zr0.8Sn0.2)Ti O4介质陶瓷烧结机制和微波介电性能的影响。结果表明:Zn O/V2O5对(Zr0.8Sn0.2)Ti O4的烧结有一定的促进作用,但Zn O/V2O5添加量的增大会造成晶格缺陷和残留气孔增多,从而导致材料的密度和Q×f降低。在1 320℃保温4 h并添加了0.6 wt%Zn O/V2O5的试样具有相对较好的介电性能:εr=36.48,Q×f=16 800 GHz。
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关键词
(Zr0.8Sn0.2)Ti
O4
复合添加zn
O/V2O5
烧结机制
介电性能
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职称材料
题名
复合添加ZnO/V_2O_5对(Zr_(0.8)Sn_(0.2))TiO_4陶瓷性能的影响
1
作者
于轩
秦旺洋
贾路方
钱莹
丁东
机构
汉高华威电子股份有限公司
出处
《电子与封装》
2015年第2期40-43,48,共5页
文摘
讨论了复合添加Zn O/V2O5对(Zr0.8Sn0.2)Ti O4介质陶瓷烧结机制和微波介电性能的影响。结果表明:Zn O/V2O5对(Zr0.8Sn0.2)Ti O4的烧结有一定的促进作用,但Zn O/V2O5添加量的增大会造成晶格缺陷和残留气孔增多,从而导致材料的密度和Q×f降低。在1 320℃保温4 h并添加了0.6 wt%Zn O/V2O5的试样具有相对较好的介电性能:εr=36.48,Q×f=16 800 GHz。
关键词
(Zr0.8Sn0.2)Ti
O4
复合添加zn
O/V2O5
烧结机制
介电性能
Keywords
(Zr0.8Sn0.2)TiO4
zn
O and V205 co-doping
sintering mechanism
dielectric properties
分类号
TN305 [电子电信—物理电子学]
TB34 [一般工业技术—材料科学与工程]
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职称材料
题名
作者
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1
复合添加ZnO/V_2O_5对(Zr_(0.8)Sn_(0.2))TiO_4陶瓷性能的影响
于轩
秦旺洋
贾路方
钱莹
丁东
《电子与封装》
2015
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