一种CMOS芯片抗闩锁电路设计

阐述了CMOS芯片内部产生“闩锁”效应的机理及其危害;提出了一种CMOS芯片外围保护电路的设计方法,目的在于尽量避免CMOS芯片发生“闩锁效应”而被烧坏。对电路的拓扑形式及各部分的功能进行了详细的描述,CMOS外围保护电路进行设计完善后,CMOS芯片使用情况良好,未再发生过类似故障。