基于外围设备互连总线在仪器领域的功能扩充系统的低成本射频放大器芯片测试方案与实现

方案采用外围设备互连总线在仪器领域的功能扩充(PXI)射频RF模块搭建成一套射频并行测试系统,实现一款采用融合架构的集成化射频放大器芯片的最终测试,解决了测试成本高,测试不稳定等问题;同时提出了一些射频测试的方法用来加快测试效率.最终测试结果表明,该方案的测量结果与测量要求一致,同时又降低了测试成本,具有一定的应用前景和实用价值.