富钙CaGe:YlG薄膜铁磁共振线宽随外场角度的变化

在98K至室温温度下测量了富钙CaGe:YIG薄膜生成态和还原样品的铁磁共振线宽随外磁场在〔112〕平面内与〔111〕方向成θ角的变化。线宽与样品面积无关的结果及温度越低线宽随θ角的变化越强烈而电阻率越高的实验结果表明:这里涡流机制不生效。还原时间方面的实验结果和单面膜与双面膜的比较都说明线宽随θ角的变化主要是由于沿膜厚方向存在有Ca 含量梯度而引起的。由它和Fe^(4+)弛豫离子的模型圆满地解释了线宽与θ角关系随温度的变化.