临界外推滑移长度的解析、测量及其流变学意义

给出用恒速型毛细管流变仪研究熔体挤出畸变时,计算熔体壁滑速率和外推滑移长度的原理和方法,采用2种聚合物样品HDPE(高密度聚乙烯)和EPDM(三元乙丙橡胶)验证计算方法。求得样品的壁滑速率在每秒几厘米的量级,临界外推滑移长度在毫米数量级。由此进一步探讨壁滑的分子机理和界面机理,指出发生显著熔体壁滑、压力振荡和挤出物表面畸变的前提条件是,熔体具有线形分子链且发生强缠结以及熔体/模壁间具有强吸附边界。

弱锚定垂面排列液晶显示器的响应时间

研究了弱锚定垂面排列液晶显示器中液晶的响应时间。应用等效液晶盒厚的方法可以将弱锚定液晶盒看作强锚定液晶盒。等效盒厚为液晶层厚度加上由于弱锚定边界条件而引起的外推长度。文中应用两种不同的方法推导了该外推长度,并对两种方法对应的响应时间进行了比较和分析。

LCD点状缺陷分析与研究

LCD作为一个新兴的高科技光电产业,现已几乎全面取代CRT显示器而成为主流显示器。但是LCD生产流程复杂,生产过程中会出现各种缺陷,使得良品率下降并造成成本增加。文章通过对两种典型点状缺陷样品的实验观测,结合外推长度理论及长程扰动理论,论证了不同缺陷核心对周围液晶分子产生的不同影响。