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陶瓷样品外束质子荧光定量分析中样品定位精度的研究
被引量:
3
1
作者
王广甫
鲁永芳
《核技术》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2007年第5期432-437,共6页
通过改变与陶瓷有相似成份的GBW07306水系沉积物标准样品的前后位置和角度,研究了陶瓷样品外束质子荧光(External beam proton induced X-ray emission,外束PIXE)分析中样品位置对测量结果的影响。并以此为依据分析了陶瓷样品外束PIXE...
通过改变与陶瓷有相似成份的GBW07306水系沉积物标准样品的前后位置和角度,研究了陶瓷样品外束质子荧光(External beam proton induced X-ray emission,外束PIXE)分析中样品位置对测量结果的影响。并以此为依据分析了陶瓷样品外束PIXE定量分析对样品定位精度的要求。结果表明:在质子能量为2.5MeV、样品距离质子引出窗口12mm和质子束入射方向夹角为30°、Si(Li)探测器在80°且距离样品20mm的实验条件下,沿束流方向位置变化引起的相对误差控制在5%以内时,样品定位精确度应高于±0.14mm;样品与质子束夹角变化引起的相对误差控制在5%以内时,样品角度定位需精确到±1.2°。
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关键词
外束质子荧光分析
GBW07306水系沉积物标准参考样
位置
误差
下载PDF
职称材料
题名
陶瓷样品外束质子荧光定量分析中样品定位精度的研究
被引量:
3
1
作者
王广甫
鲁永芳
机构
北京师范大学分析测试中心
北京师范大学低能核物理研究所
出处
《核技术》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2007年第5期432-437,共6页
文摘
通过改变与陶瓷有相似成份的GBW07306水系沉积物标准样品的前后位置和角度,研究了陶瓷样品外束质子荧光(External beam proton induced X-ray emission,外束PIXE)分析中样品位置对测量结果的影响。并以此为依据分析了陶瓷样品外束PIXE定量分析对样品定位精度的要求。结果表明:在质子能量为2.5MeV、样品距离质子引出窗口12mm和质子束入射方向夹角为30°、Si(Li)探测器在80°且距离样品20mm的实验条件下,沿束流方向位置变化引起的相对误差控制在5%以内时,样品定位精确度应高于±0.14mm;样品与质子束夹角变化引起的相对误差控制在5%以内时,样品角度定位需精确到±1.2°。
关键词
外束质子荧光分析
GBW07306水系沉积物标准参考样
位置
误差
Keywords
External beam proton induced X-ray emission, GBW07306 sample, Position, Error
分类号
TL52 [核科学技术—核技术及应用]
下载PDF
职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
陶瓷样品外束质子荧光定量分析中样品定位精度的研究
王广甫
鲁永芳
《核技术》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2007
3
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职称材料
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