期刊导航
期刊开放获取
河南省图书馆
退出
期刊文献
+
任意字段
题名或关键词
题名
关键词
文摘
作者
第一作者
机构
刊名
分类号
参考文献
作者简介
基金资助
栏目信息
任意字段
题名或关键词
题名
关键词
文摘
作者
第一作者
机构
刊名
分类号
参考文献
作者简介
基金资助
栏目信息
检索
高级检索
期刊导航
共找到
1
篇文章
<
1
>
每页显示
20
50
100
已选择
0
条
导出题录
引用分析
参考文献
引证文献
统计分析
检索结果
已选文献
显示方式:
文摘
详细
列表
相关度排序
被引量排序
时效性排序
450 mm晶圆CMP设备技术现状与展望
被引量:
2
1
作者
柳滨
周国安
《电子工业专用设备》
2014年第3期33-36,60,共5页
分析化学机械平坦化(CMP)耗材发展现状及趋势,推断450 mm晶圆的CMP设备及技术的迫切性;在此基础上,展望450 mm晶圆将会采用系统集成技术、多区域压力控制承载器技术、抛光垫修整技术、终点检测技术、后清洗技术,并初步分析以上这些技术...
分析化学机械平坦化(CMP)耗材发展现状及趋势,推断450 mm晶圆的CMP设备及技术的迫切性;在此基础上,展望450 mm晶圆将会采用系统集成技术、多区域压力控制承载器技术、抛光垫修整技术、终点检测技术、后清洗技术,并初步分析以上这些技术的特点。最后指出随着晶圆制造厂激烈竞争和持续投资,对450 mm的CMP设备要求必有所突破。
展开更多
关键词
化学机械平坦化
集成技术
多区域压力控制
终点检测
抛光垫修整
后清洗
下载PDF
职称材料
题名
450 mm晶圆CMP设备技术现状与展望
被引量:
2
1
作者
柳滨
周国安
机构
中国电子科技集团公司第四十五研究所
出处
《电子工业专用设备》
2014年第3期33-36,60,共5页
文摘
分析化学机械平坦化(CMP)耗材发展现状及趋势,推断450 mm晶圆的CMP设备及技术的迫切性;在此基础上,展望450 mm晶圆将会采用系统集成技术、多区域压力控制承载器技术、抛光垫修整技术、终点检测技术、后清洗技术,并初步分析以上这些技术的特点。最后指出随着晶圆制造厂激烈竞争和持续投资,对450 mm的CMP设备要求必有所突破。
关键词
化学机械平坦化
集成技术
多区域压力控制
终点检测
抛光垫修整
后清洗
Keywords
Chemical mechanical planarization (CMP)
System integrated
Multi-zone back pressure control
Endpoint detection
Pad conditioner
Post CMP cleaning
分类号
TN405.2 [电子电信—微电子学与固体电子学]
TU241 [建筑科学—建筑设计及理论]
下载PDF
职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
450 mm晶圆CMP设备技术现状与展望
柳滨
周国安
《电子工业专用设备》
2014
2
下载PDF
职称材料
已选择
0
条
导出题录
引用分析
参考文献
引证文献
统计分析
检索结果
已选文献
上一页
1
下一页
到第
页
确定
用户登录
登录
IP登录
使用帮助
返回顶部