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钽电容器和独石电容器应用中的失效分析
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作者 樊晓团 胡圣 《电子元器件应用》 2001年第10期16-18,共3页
通过对钽电容器和多层独石瓷介电容器的几个失效分析实例,得出以下结论:(1) 钽电容器使用中常见的失效现象是焊接不当,导致內部焊锡流动引起短路失效,应引起起装机工作人员高度重视;(2) 通过分立元器件的解剖方法结合详细的测试分析,找... 通过对钽电容器和多层独石瓷介电容器的几个失效分析实例,得出以下结论:(1) 钽电容器使用中常见的失效现象是焊接不当,导致內部焊锡流动引起短路失效,应引起起装机工作人员高度重视;(2) 通过分立元器件的解剖方法结合详细的测试分析,找出独石瓷介电容器內部的质量问题在于介质中的缺陷,导致电极材料局部突起,以至发生离子迁移或短路失效。 展开更多
关键词 固体电解质钽电容器 多层独石瓷介电容器 失效分析
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