基于多层膜偏振元件的同步辐射光束线偏振特性测量研究

利用自行研制的同步辐射软X射线多层膜综合偏振测量装置,对北京同步辐射装置(BSRF)的3W1B软X射线光束线的偏振特性进行了系统的研究．给出了多层膜偏振元件起偏前后的测量结果,测量能量为206cV时,经反射镜、光栅等光束线光学元件后输出的线偏振度(起偏前)为0．585,经多层膜偏振元件起偏后输出光的线偏振度达到0．995．

北京同步辐射软X射线偏振测量装置及其应用

在北京同步辐射装置(BSRF)设计建造了一套基于多层膜偏振元件的软X射线偏振测量分析装置,可工作在双反、双透、前反后透和前透后反四种工作模式,既可作为偏振测量装置,用于同步辐射光束线和多层膜偏振元件偏振特性测量,也可作为通用反射率计,用于多层膜和薄膜的反射或透射率测量,又可用于磁性材料的磁光效应研究等。利用自行研制的装置和光学元件对BSRF的3W1B光束线的偏振特性进行了系统的测量。测量结果指出,在206 eV时,输出光的线偏振度从起偏前的0.585上升到起偏后的0.995,同步光的线偏振度得到极大改善。利用非周期宽带Mo/Si多层膜开展了铁磁性材料的磁光法拉第效应测量,获得了Ni薄膜3p边附近(60–70 eV)的法拉第旋转角度,最大偏转角度在65.5 eV和68 eV分别为1.85±0.19°和–0.75±0.09?。