荧光寿命的正弦调制测量法及分析

设计并制作了光强调制度和频率可调的发光二极管驱动电路,应用这种激励源激发荧光样品Eu2L′3.nH2O(L′=C4H4O4),测量了激发光和Eu3+离子的5D0—7F2发射光的波形。实验得到的数据用按照相位法测量荧光寿命的原理用非线性最小平方曲线拟合,得到Eu3+离子激发态5D0的寿命约为0.680ms。讨论了光源调制中的高次谐波分量对测量结果的影响以及寿命具有一定分布的多指数衰减体系的测量和处理方式,提出应用傅里叶级数展开处理数据的修正方法,以扩大相位法测量荧光寿命的适用范围,得到更准确的荧光寿命值。

锥束CT平板探测器成像的余晖建模与校正方法

锥束CT具有高效率和高精度的显著特点,在医学成像与工业无损检测等领域已得到广泛应用,但余晖的存在降低了CT图像的质量.本文借鉴余晖多指数衰减模型的思想,结合平板探测器输出信号的实际衰减规律,提出了一种新的基于多指数拟合的余晖衰减建模及校正方法.首先进行了基于平板探测器的锥束CT成像实验,结果表明平板探测器各像素的余晖衰减规律具有良好的一致性,且余晖衰减规律与初始灰度的大小无关;其后根据建立的余晖衰减模型实现了余晖的快速校正,并分析比较了余晖校正前后投影图像和切片图像质量,表明余晖校正后的零件轮廓清晰度得到了显著提升.该方法无需获取探测器闪烁体成分及其衰减时间常数,便于实际锥束CT成像系统的余晖检测与校正.