多探头测量系统

机械加工速度越来越快，精度要求越来越高，从而推动了多探头测量技术的发展。近年来，制造商们正在寻求着一种万能的测量工具，这使得存在已久的多探头测量技术，越来越受到人们的欢迎。制造商们希望这种组合式的多探头测量系统带有更多的新技术，如：可视技术、激光技术和探测扫描技术。

共模电流对多探头天线测量系统影响的研究

校准天线作为校准系统的主力部件,其性能直接决定了测量系统的精确度。对于未设计扼流结构的校准天线,天线上的部分电流会流到与其连接的线缆的外表面,线缆外表面的这种电流也称为共模电流。共模电流会改变校准天线的辐射性能,给系统的增益、效率等校准均不确定的误差。针对上述问题,研究和定量分析了与校准天线连接的线缆上存在的共模电流会给多探头天线测量系统的校准带来的误差,并根据仿真结果,提出了校准环天线在设计时应该满足大于25 dB的交叉极化比指标。然后通过两个校准环天线的实例,介绍了如何设计巴伦结构让环天线在宽带宽内实现抑制共模电流的效果。最后,通过对交叉极化比大于25 dB的环天线进行测量,验证了其抑制共模电流的效果,并根据其实测的交叉极化比与环向增益纹波,验证了交叉极化比对环天线环向增益纹波的影响,对多探头天线测量系统的高精度测量有着重要意义。