TH703 2003053891测量大数值孔径光学系统小光斑的方法=Testing methodof small light spot produced by an optical system with highNA[刊,中]/徐文东(中科院上海光机所.上海(201800)),干福熹//中国激光.—2003,30(2).—171-174介绍...TH703 2003053891测量大数值孔径光学系统小光斑的方法=Testing methodof small light spot produced by an optical system with highNA[刊,中]/徐文东(中科院上海光机所.上海(201800)),干福熹//中国激光.—2003,30(2).—171-174介绍了一种小孔扫描测量大数值孔径光学系统小光斑的方法。利用近场光学显微镜的光纤探针采样技术和压电陶瓷扫描技术,可对光学系统小光斑的光强分布进行高空间分辨的测量。展开更多
Y2000-62088-1867 0010063全球定位系统用的10和2.45GHz 短基线干涉仪=10and 2.45GHz short baseline interferometers for position-ing systems[会,英]/Benlarbi—Delai,A.& Cousin,J.C.//1999 IEEE MTT-S International Microwav...Y2000-62088-1867 0010063全球定位系统用的10和2.45GHz 短基线干涉仪=10and 2.45GHz short baseline interferometers for position-ing systems[会,英]/Benlarbi—Delai,A.& Cousin,J.C.//1999 IEEE MTT-S International Microwave Sym-posium,Vol.4.—1867~1870(UC)展开更多
文摘TH703 2003053891测量大数值孔径光学系统小光斑的方法=Testing methodof small light spot produced by an optical system with highNA[刊,中]/徐文东(中科院上海光机所.上海(201800)),干福熹//中国激光.—2003,30(2).—171-174介绍了一种小孔扫描测量大数值孔径光学系统小光斑的方法。利用近场光学显微镜的光纤探针采样技术和压电陶瓷扫描技术,可对光学系统小光斑的光强分布进行高空间分辨的测量。