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多测位并行测试的探索与实践
被引量:
1
1
作者
张洪波
《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
2004年第6期45-46,51,共3页
多测位并行测试技术是半导体测试业节约成本、提高效率的新途径,应用好并行测试技术可以大幅度降低测试成本。本文讲述了用台湾久元的SCUD-512型测试机和东京精密的UF200探针台实现双测位并行测试的实践过程,另外还介绍了并行测试技术...
多测位并行测试技术是半导体测试业节约成本、提高效率的新途径,应用好并行测试技术可以大幅度降低测试成本。本文讲述了用台湾久元的SCUD-512型测试机和东京精密的UF200探针台实现双测位并行测试的实践过程,另外还介绍了并行测试技术在晶圆测试过程中的若干技术问题和解决方案。
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关键词
多测位并行测试
SCUD-512
UF200
晶圆
测试
下载PDF
职称材料
题名
多测位并行测试的探索与实践
被引量:
1
1
作者
张洪波
机构
华越微电子有限公司
出处
《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
2004年第6期45-46,51,共3页
文摘
多测位并行测试技术是半导体测试业节约成本、提高效率的新途径,应用好并行测试技术可以大幅度降低测试成本。本文讲述了用台湾久元的SCUD-512型测试机和东京精密的UF200探针台实现双测位并行测试的实践过程,另外还介绍了并行测试技术在晶圆测试过程中的若干技术问题和解决方案。
关键词
多测位并行测试
SCUD-512
UF200
晶圆
测试
分类号
TN307 [电子电信—物理电子学]
下载PDF
职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
多测位并行测试的探索与实践
张洪波
《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
2004
1
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