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局部牛顿插值法提高多狭缝自准直仪准确度
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作者 刘爱敏 高立民 +2 位作者 吴易明 白建明 李研 《光子学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2010年第7期1297-1301,共5页
根据多狭缝自准直仪目标物形状特征及光电探测器成像特点,通过边缘检测算法确定经过高斯滤波处理的CCD图像的像元级边界.在此基础上应用局部牛顿插值法对CCD图像边缘位置附近进行亚像元细分,实现亚像元边缘检测;再结合最小二乘直线边缘... 根据多狭缝自准直仪目标物形状特征及光电探测器成像特点,通过边缘检测算法确定经过高斯滤波处理的CCD图像的像元级边界.在此基础上应用局部牛顿插值法对CCD图像边缘位置附近进行亚像元细分,实现亚像元边缘检测;再结合最小二乘直线边缘拟合法进一步提高图像边缘检测准确度.经验证,该算法可达到0.13″的定位准确度. 展开更多
关键词 多狭缝自准直仪 CCD亚像元细分 局部牛顿插值法 直线边缘拟合
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