在多电源多电压的时代符合UPF单元库/环境

各式各样的低功耗设计技术需要被使用来降低设备的功耗,进而增加电池的使用寿命。芯片设计的每个步骤都需要低功耗方案,如何有效地设计与管理这些复杂的低功耗方案成为了一个至关重要的课题。本文我们将回顾传统多电源多电压设计流程,然后与基于统一功率格式方法学做一个比较。稍后,我们将介绍专用单元库的需求以及分享一些我们对统一功率格式方法学的看法。

一种低功耗系统芯片的可测试性设计方案

低功耗技术,如多电源多电压和电源关断等的应用,给现代超大规模系统芯片可测试性设计带来诸多问题。为此,采用工业界认可的电子设计自动化工具和常用的测试方法,构建实现可测试性设计的高效平台。基于该平台,提出一种包括扫描链设计、嵌入式存储器内建自测试和边界扫描设计的可测性设计实现方案。实验结果表明,该方案能高效、方便和准确地完成低功耗系统芯片的可测性设计,并成功地在自动测试仪上完成各种测试,组合逻辑和时序逻辑的扫描链测试覆盏率为98.2%。

一种低功耗系统芯片的实现流程

随着半导体工艺技术的进步,系统芯片的集成度越来越高,功耗成为重点考虑的因素之一,尤其用于便携式设备中。本文描述了一种多电源、多电压低功耗系统芯片的实现流程。该流程基于IEEE1801(UPF)标准,采用Synopsys和Mentor Graphics公司的EDA工具,方便地实现了RTL-GDSII的整个过程。